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半导体参数测试仪

赛默飞世尔
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半导体参数测试仪

半导体参数测试仪概述

半导体参数测试仪是一种集多种测量和分析功能于一体的测试仪器,可准确执行电流-电压(IV)和电容测量(CV(电容-电压)、C - f(电容-频率)以及 C – t(电容-时间)测量),并快速、轻松地对测量结果进行分析,完成半导体参数测试。半导体参数测试仪是确定半导体器件特征及其制造过程的一项基础测量。因其优越的性能、强大的功能以及出色的易操作性,现已在各种材料、器件和电子器件的 IV 和 CV 表征中得到广泛应用。半导体参数测试仪可为表征任务提供更高的性能、更强的可用性以及更高的效率。由于半导体参数测试仪具有多种功能,因此适用于从探索分析到自动测试的各种测量环境。
等离子刻蚀ICP

等离子刻蚀ICP

品牌:美国Trion
型号:Minilock-Phantom III ICP
西安厂家直供高温阻断试验台

西安厂家直供高温阻断试验台

品牌:易恩电气
型号:EN-GWZD
DAGE4000Plus多功能推拉力测试机

DAGE4000Plus多功能推拉力测试机

品牌:英国Nordson Dage
型号:Nordson DAGE4000Plus
高精度大功率晶闸管综合测试仪

高精度大功率晶闸管综合测试仪

品牌:易恩电气
型号:DBC-226
易恩电气半导体综合参数测试仪

易恩电气半导体综合参数测试仪

品牌:易恩电气
型号:ENJ2005-B
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半导体参数测试仪解决方案

半导体参数测试仪产品列表
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美国MTI 测量硅片几何参数(TTV/BOW/WARP/FLATNESS)

美国MTI 测量硅片几何参数(TTV/BOW/WARP/FLATNESS)

  • 品牌: 美国MTI Instruments
  • 型号: MTI 200SA/300/300SA
  • 产地:美国
  • 仪器简介: 美国MTI公司为半导体行业硅片几何参数测量技术-电容探头领域的佼佼者,与昔日的ADE齐名:为世界半导体业硅片几何参数测量的标准测试设备;都同为纳斯达克上市韦德国际1946手机版。 主要参数: 1. Diameter: 150mm,200mm,300mm 2. Material: All semiconducting,and semi-insulating matrrials 3.Surfaces: As-Cut, Lapped, Etched,Polished,Patterned; Bare wafer/Quartz Base,Tape 4.Thickness: (ASTM F533),Range-+/-500um;Accracy-+/-0.25um; Repeatability-0.050um 5.TTV: (ASTM F533) Range-+/-500um; Accuracy-+/-0.050um; Repeatablity-0.050um 6.Bow:(ASTM F1390) Range-+/-250um; Accuracy-+/-2.0um; Repeatabiligy-0.75um 7.Flatness(Global)(ASTM F1530) Rang:8mm; Accuracy-+/-0.05um; Repeatbility-0.030um 8.Flatness(Site)(ASTM F1530) Rang:8mm; Accuracy: +/-0.05um; Repeatbiligy:0.030um 设备:Proforma 300SA:半自动最大12寸晶圆几何参数测量仪;Proforma 200SA:半自动型最大8寸晶圆几何参数测试仪; 测试数据/结果例子: 23-Sep-2013 Wafer Summary Report Page:1.00 Operator: Administrator Lot Number:DK Wafer 200mm Passed:4 Measurement Date:09/23/2013 Recipe:200mm,33,m,1notch,1-29-13 1 run Failed:0 Measurement Time:17:51:58 Yield:100.0% WaferWaferCenterAvgMinMax 3PTLSQ3PTLSQ MaxMaxMaxMaxMaxMaxMaxMax% SitesNumberIDThicknessThicknessThicknessThicknessTTVBowBowWarpWarpSoriGBIRGF3RGFLRGBIDGF3DGFLDSBIRSF3RSFLRSFQRSBIDSF3DSFLDSFQDPassed (uM)(uM)(uM)(uM)(uM)(uM)(uM)(uM)(uM)(uM)(uM)(uM)(uM)(uM)(uM)(uM)(uM)(uM)(uM)(uM)(uM)(uM)(uM)(uM)(uM) Low Limit High Limit 1.00shiny side729.56729.15728.83729.650.82-0.20-2.2118.3217.7417.720.820.760.750.820.630.480.290.300.300.130.210.200.200.07100.002.00dull side729.60729.14728.77729.730.963.855.5917.3417.3217.560.960.770.770.960.640.540.320.340.340.190.260.250.250.13100.003.00shiny side729.52729.10728.77729.610.840.33-1.5516.7517.3017.270.840.750.740.840.610.480.340.330.330.130.190.190.190.09100.004.00dull side729.54729.10728.76729.680.923.295.3417.2117.2917.530.920.790.760.920.610.530.290.270.280.180.270.260.260.10100.00 Minimum729.52729.10728.76729.610.82-0.20-2.2116.7517.2917.270.820.750.740.820.610.480.290.270.280.130.190.190.190.07100.00 Maximum729.60729.15728.83729.730.963.855.5918.3217.7417.720.960.790.770.960.640.540.340.340.340.190.270.260.260.13100.00 Average729.56729.12728.78729.670.891.821.7917.4117.4117.520.890.770.760.890.620.510.310.310.310.160.230.230.230.10100.00 Std Dev0.0300.0220.0280.0440.0561.7723.6810.5730.1900.1620.0560.0150.0120.0560.0140.0250.0220.0290.0250.0250.0320.0290.0300.0210.000 200SA/300SA操作界面,3D图形貌显示技术参数: 1. Diameter: 150mm,200mm,300mm 2. Material: All semiconducting,and semi-insulating matrrials 3.Surfaces: As-Cut, Lapped, Etched,Polished,Patterned; Bare wafer/Quartz Base,Tape 4.Thickness: (ASTM F533),Range-+/-500um;Accracy-+/-0.25um; Repeatability-0.050um 5.TTV: (ASTM F533) Range-+/-500um; Accuracy-+/-0.050um; Repeatablity-0.050um 6.Bow:(ASTM F1390) Range-+/-250um; Accuracy-+/-2.0um; Repeatabiligy-0.75um 7.Flatness(Global)(ASTM F1530) Rang:8mm; Accuracy-+/-0.05um; Repeatbility-0.030um 8.Flatness(Site)(ASTM F1530) Rang:8mm; Accuracy: +/-0.05um; Repeatbiligy:0.030um主要特点: 1. Diameter: 150mm,200mm,300mm 2. Material: All semiconducting,and semi-insulating matrrials 3.Surfaces: As-Cut, Lapped, Etched,Polished,Patterned; Bare wafer/Quartz Base,Tape 4.Thickness: (ASTM F533),Range-+/-500um;Accracy-+/-0.25um; Repeatability-0.050um 5.TTV: (ASTM F533) Range-+/-500um; Accuracy-+/-0.050um; Repeatablity-0.050um 6.Bow:(ASTM F1390) Range-+/-250um; Accuracy-+/-2.0um; Repeatabiligy-0.75um 7.Flatness(Global)(ASTM F1530) Rang:8mm; Accuracy-+/-0.05um; Repeatbility-0.030um 8.Flatness(Site)(ASTM F1530) Rang:8mm; Accuracy: +/-0.05um; Repeatbiligy:0.030um

DAGE4000Plus多功能推拉力测试机

DAGE4000Plus多功能推拉力测试机

  • 品牌: 英国Nordson Dage
  • 型号: Nordson DAGE4000Plus
  • 产地:英国
  • DAGE4000,Plus,Optima,HS,推拉力测试,焊接强度测试,Bondtester,剪切力测试,推拉力机,达格,Nordson,诺信,诺德森Nordson DAGE4000Plus多功能推拉力测试机Bondtesters焊接强度测试仪第二代Nordson DAGE 4000Plus是市场是最先进的焊接强度测试仪。4000Plus焊接强度测试仪确立了粘合测试领域的行业标准,代表着同类中的最佳产品,可以提供无与伦比的数据精确性和可重复性,令您对测试结果充满信心。4000Plus多用途焊接强度测试仪可以执行高达500千克的剪切力测试、高达100千克的张力测试和高达50千克的推力测试,涵盖包括新的热拔球测试和微材料测试在内的所有测试应用。此系统还包括一个摄像头辅助自动化系统,非常适合晶圆相互连接、引线框架、混合微电路或汽车电子元件封装的张力和剪切测试等应用。用途广泛标准4000Plus大型机具有120毫米的垂直工作包络面,可以满足大多数应用。XY工作台可用面积从160毫米x 160毫米直至300毫米x 210毫米,其中包括高精度、更高的速度和焊区剪切力选项。此外,甚至可以选择最高400摄氏度、最重200千克的加热工区台,以及可调节的温度控制选项。提高效率4000Plus提供各种针对粘合测试和微材料测试的光学解决方案,使成像系统可用于故障模式分析、校准和测试结果实时记录:图像采集系统:用于高级分析,设置速度快,而且紧靠测试头,帮助实现更快速的测试。孔径成像系统:提供高放大率成像,非常适合精确的工具校准,而且完美适合超窄间距设备。三目摄像头:可以连接到具有C型安装支架的任何立体可调倍率显微镜。借助合适的显微镜,可以从宽到近调整视场,非常适合宏定位。侧校准摄像头:提供侧视图,非常适合测试铜柱凸块、微凸块和回步精确性4000Plus采用最新的粘合测试技术,例如帮助设置和控制步退的消隙系统。剪切高度可以设置和保持在单微米精度。关联Nordson DAGE认识到数据关联是旧平台和新平台之间交叉引用测试结果的基础。Nordson DAGE焊接强度测试仪的现有用户可以放心地在旧机器和新机器之间比较数据。而且,我们知道,许多用户从同一地点甚至不同地点的多个机器上收集有关同一产品的数据,而且在相同配置和测试参数的情况下,需要确保数据与终极完整性相关联。智能软件4000Plus采用Paragon软件,该软件具有高度可配置的直观界面以及各种高级功能,例如自动GR&R计算、内置的诊断、独一无二的数据库搜索引擎向导和卓越的报告功能。

自动特性图示仪

自动特性图示仪

  • 品牌: 美国RTI
  • 型号: MT Century Curve Trace
  • 产地:美国
  • 产品简介什么是Curve Tracing?"Curve tracing" 曲线追踪是用于寻找IC芯片中被电损坏的引脚的方法。MultiTrace产品提供了广泛的一系列解决方案,从使用powered curve tracing测试小型芯片的开路/短路到使用Latch Up testing测试与更为复杂的多电路的芯片。RTI's MT Century Curve Tracer RTI 开发的MT Century Curve Tracer是一个性价比较高的曲线追踪设备。MT Century Curve Tracer测试设备,最多到96个channel,提供4种型号可供客戶选择,一定会找到一款符合客户的预算及测试要求的系統。MT Century Curve Tracer 与RTI其他大型curve trace拥有一样的可靠性,功率和软件。像其他RTI机型一样,MT Century系統的设计有与950系列的测试夾具及其它专用夾具连接的接口。?RTI's MultiTrace Test System原來的自动曲线跟踪器已经提供超过10年。这款系统可以最高检测达625引脚。 它有各种尺寸可供选择,以满足最广泛用戶的需求。 RTI's MultiTrace 625 引脚 PGA FixtureRTI's MultiTrace 自动 DC Parametric 測試系統StdTrace 软件追踪报告StdTrace 软件报告大量的参考资料测试排列软件MultiTrace 的应用:无源曲线追踪器 (Unpowered Curve Tracing):检测开路,短路和漏电流有源曲线追踪器 (Powered Curve Tracing): 检测漏电流,供电电流问題。 测量大量有用的參数电源电流测量(Supply Current Measurements): 两种方法來測量电流供应 。 A 6-Bus 系統可同時对3组电源測量Latch Up 测试: (选配)根据JESD 78 特征, 找出 Latch-Up 敏感度 . 基础 Curve Tracing 的应用:Input-Output 转换功能:将输入电压接到引腳上,测量輸出引脚电平变化.对晶体管做曲线分析:检测任何型号的晶体管显微鏡:使用显微镜定位原件的损伤部位.IDDQ 测试:测量芯片每个状态的电流输入功能性的引导能力:Change Input Pin States According to an Input File Then Measure What you Need. Ability to Measure Output States Allows for Gross Functional Testing根据所輸入信息改变输入 Pin的状态,然后进行量测。測量輸出区域的功能测试状态。Kelvin 4-Wire 阻力测试:使用這种特制的应用软件来控制开关矩阵和收集的数据,实现精密的电阻測量。RTI's MegaTrace 自动直流參數曲线追踪MegaTrace由648引脚开始一直到2160的引脚,因此其有足夠的能力來测试几乎任何芯片。机器集成化较高,机台很容易移动,也可以与其他仪器如显微鏡,探针台,以及其他远程测试机器一起使用。 曲线追踪功能Unpowered 曲线追踪 (连续测试)Powered 曲线追踪Supply Current Characterization (Idd 测试)6条总线系统的2VDD 及 3 VDD 湔試其它测量及测试功能Latch-Up 测试功能性预处理任何的±15V 一& ±1A直流测量

DAGE4000多功能推拉力测试机

DAGE4000多功能推拉力测试机

  • 品牌: 英国Nordson Dage
  • 型号: DAGE 4000
  • 产地:英国
  • DAGE4000,Plus,Optima,HS,推拉力测试,焊接强度测试,Bondtester,剪切力测试,推拉力机,达格,Nordson,诺信,诺德森DAGE4000系列多功能推拉力测试机Nordson DAGE是获奖焊接强度测试设备(推拉力测试机)的主要提供商。第二代DAGE4000Plus推拉力测试机依然是市场上最先进的推拉力测试机,而DAGE4000Optima经过优化,可在大批量生产环境中实现快速、准确和可靠的推拉力测试。Nordson DAGE被视为行业标准,拥有真正意义上的全球覆盖,并以为本地和国际组织提供支持而自豪。DAGE4000多功能推拉力测试机DAGE4000推拉力测试机是多功能的,能够执行所有拉力和剪切力应用。DAGE4000多功能推拉力测试机可配置为简单的焊线拉力测试仪或者升级以提供锡球剪切力、晶粒剪切力、凸块拉力、矢量拉力或镊钳拉力测试。DAGE4000多功能推拉力测试机使用已获得专利的无摩擦式负载夹头和空气轴承技术来确保最大准确性、可重复性和可再生性。不同应用的测试模块可轻易更换。许多功能是自动化的,同时还有先进的电子和软件控制。DAGE4000多功能推拉力测试机主要特点焊线拉力镊钳拉力锡球剪切力、焊料球剪切力以及晶粒剪切力取决于系统配置。八个标准测试头的每一个都包含四个默认软件可选工作范围,还有六个可应要求使用。附加选项包括冷拔球、矢量拉力(用于微型BGA)以及小型几何封装的自动测试内部SPC软件自动测试,可提供基础分析与ODBC完全兼容,可与外部统计过程控制系统交换数据。系统控制通过运行Windows的外部PC提供。DAGE4000Plus推拉力测试机第二代Nordson DAGE 4000Plus是市场是最先进的推拉力测试机。DAGE4000Plus推拉力测试机确立了粘合测试领域的行业标准,代表着同类中的最佳产品,可以提供无与伦比的数据精确性和可重复性,令您对测试结果充满信心。DAGE4000Plus多用途焊接强度测试仪可以执行高达500kg的剪切力测试、高达100kg的张力测试和高达 50kg的推力测试,涵盖包括新的热拔球测试和微材料测试在内的所有测试应用。此系统还包括一个摄像头辅助自动化系统,非常适合晶圆相互连接、引线框架、混合微电路或汽车电子元件封装的张力和剪切测试等应用。用途广泛标准DAGE4000Plus具有120mm的垂直工作包络面,可以满足大多数应用。XY工作台可用面积从160mm×160mm直至300mm×210mm,其中包括高精度、更高的速度和焊区剪切力选项。此外,甚至可以选择最高400摄氏度、最重200kg的加热工区台,以及可调节的温度控制选项。在数秒内切换应用业界独一无二的多功能测试模块(MFC)经过精心设计,可以在4000Plus焊接强度测试仪上与自动测试程序配合使用,实现对复杂的混合封装和超快速应用转换进行多表面测试。提高效率DAGE4000Plus提供各种针对粘合测试和微材料测试的光学解决方案,使成像系统可用于故障模式分析、校准和测试结果实时记录:图像采集系统:用于高级分析,设置速度快,而且紧靠测试头,帮助实现更快速的测试。孔径成像系统:提供高放大率成像,非常适合精确的工具校准,而且完美适合超窄间距设备。三目摄像头:可以连接到具有 C 型安装支架的任何立体可调倍率显微镜。 借助合适的显微镜,可以从宽到近调整视场,非常适合宏定位。侧校准摄像头:提供侧视图,非常适合测试铜柱凸块、微凸块和TSV等微特征。 这个辅助视点提供准确的、可重复的测试。回步精确性DAGE4000Plus采用最新的粘合测试技术,例如帮助设置和控制步退的消隙系统。剪切高度可以设置和保持在单微米精度。关联Nordson DAGE认识到数据关联是旧平台和新平台之间交叉引用测试结果的基础。Nordson DAGE焊接强度测试仪的现有用户可以放心地在旧机器和新机器之间比较数据。而且,我们知道,许多用户从同一地点甚至不同地点的多个机器上收集有关同一产品的数据,而且在相同配置和测试参数的情况下,需要确保数据与终极完整性相关联。智能软件DAGE4000Plus采用Paragon软件,该软件具有高度可配置的直观界面以及各种高级功能,例如自动GR&R计算、内置的诊断、独一无二的数据库搜索引擎向导和卓越的报告功能。DAGE4000 Optima推拉力测试机最快且最准确的推拉力测试机。经过优化的Nordson DAGE 4000 Optima可以在大批量生产环境中实现快速、准确和可靠的焊接强度测试。专利技术和卓越的人体工程学与智能、直观的软件相结合,使DAGE4000 Optima成为最棒的生产推拉力测试机;提供可重复、可复制的测试结果。更快的测试通过加载工具到焊接的快速定位、卓越的人体工程学设计和快速的测试,最大限度地提高吞吐量。非常快速的应用转换Nordson DAGE韦德国际1946手机版在大批量生产环境进行焊接强度测试中的透彻理解巩固了业内独特的多功能测试模块 (MFC)的稳健发展。具有独特设计的MFC扩展了 4000 Optima上的手动测试的通用性,使得应用能够非常快速地转换(几秒钟之内)。极高的准确性获得可重复、可复制的测试结果,这些结果对于MSA和GR&R研究是有保证的、合格的。终极灵活性可执行0.25g到50kg的拉力测试,以及0.25g到200kg的剪切力测试。智能软件DAGE4000 Optima采用Paragon 软件,该软件具有高度可配置的直观界面以及各种高级功能,例如自动GR&R计算、内置诊断、独一无二的数据库搜索引擎向导和卓越的报告功能。4000HS高速推拉力测试机Nordson DAGE 4000HS高速推拉力测试机是以行业标准Nordson DAGE 4000多用途推拉力测试机平台为基础的。DAGE4000HS对于剪切力和拉力模式在工作模式方面具有很大差别,对于剪切力速度可高达4m/s,对于拉力速度可高达 1.3m/s。DAGE4000HS焊接强度测试仪还提供高级分析选项,除了传统的峰值力测量外,还提供力与位移图以及能量测量。Nordson DAGE 4000HS推拉力测试机提供高速焊接测试,用以评估故障模式而不是测量故障力。适合于: 高应变率测试 高达 5kg拉力和 5kg剪切力 高速区域剪切力测试 速度为600mm/s时高达80kg 冲击测试应用 作为3点和4点弯曲测试和坠落测试的一种替代 脆性断裂连接故障分析 无铅焊料球连接评估 同时对多个锡焊球进行剪切力测试

Sinton Instruments+BCT400+少子寿命测试仪

Sinton Instruments+BCT400+少子寿命测试仪

  • 品牌: 美国Sinton Instruments
  • 型号: BCT400
  • 产地:美国
  • 少子寿命测量仪BCT-400BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅(锭或块)的少子寿命.因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数,这个工具直接获得长硅的质量参数。作为最易于使用的测量工具--BLS,只需要有直径150mm大小的平面。如果只是测量平面样品的话,请选择BCT-400。

美国Mactronix硅片倒片机(半导体FAB专用)

美国Mactronix硅片倒片机(半导体FAB专用)

  • 品牌: 美国Mactronix
  • 型号: MCL-x50
  • 产地:美国
  • 仪器简介: Mactronix公司世界最大的wafer transfer(倒片机)生产产家, 他生产的倒片机,分选机广泛被大的半导体厂家所使用,特别是欧美地区的大FAB里处处都有,国内的FAB里从国外进来的生产线上也是有很多,用十几年以上非常普遍, 目前国内通过美国赛伦科技公司(北京上海都有办事处)全权负责销售与售后服务.如:台积电, 中芯, 康可电子等等FAB里都有购买. 具体资料需来电或邮件索取,或自己下载即可.技术参数: Mactronix公司世界最大的wafer transfer(倒片机)生产产家, 他生产的倒片机,分选机广泛被大的半导体厂家所使用,特别是欧美地区的大FAB里处处都有,国内的FAB里从国外进来的生产线上也是有很多,用十几年以上非常普遍, 目前国内通过美国赛伦科技公司(北京上海都有办事处)全权负责销售与售后服务.如:台积电, 中芯, 康可电子等等FAB里都有购买. 具体资料需来电或邮件索取,或自己下载即可.主要特点: Mactronix公司世界最大的wafer transfer(倒片机)生产产家, 他生产的倒片机,分选机广泛被大的半导体厂家所使用,特别是欧美地区的大FAB里处处都有,国内的FAB里从国外进来的生产线上也是有很多,用十几年以上非常普遍, 目前国内通过美国赛伦科技公司(北京上海都有办事处)全权负责销售与售后服务.如:台积电, 中芯, 康可电子等等FAB里都有购买. 具体资料需来电或邮件索取,或自己下载即可. 各种不同的硅片倒片机设备有近百种之多,这里附上部分设备:

WEP PN深度测试仪/扩散浓度ECV)

WEP PN深度测试仪/扩散浓度ECV)

  • 品牌: 德国WEP
  • 型号: CVP21
  • 产地:德国
  • ECV/结深测试仪/扩散浓度分选仪 德国WEP公司的ECV(型号为CVP21)在太阳能光伏行业的应用非常普及,市场占有率甚至达95%以上,是光伏行业电池技术研究和发展的必要工具之一,几乎知名的光伏韦德国际1946手机版都有使用。 WEP公司的ECV设备:CVP21(见图) 1. ECV又名扩散浓度测试仪,结深测试仪等,即电化学CV法测扩散后的载流子浓度分布(见图); 2. 相比其他方法如SRP,SIMS等,ECV具有测量使用方便,价格低的优点; WEP公司的ECV具有独特技术可应用于测试电池片的绒面样片,这也是其被广泛使用的原因之一; 4. CVP21所能测量的深度范围是nm---10um; 5. 测量的载流子浓度范围在10e12cm-3 < N < 10e21cm-3之内都无需校准; 6. 测量扩散样片时,样片是保持“Dry in”和“Dry out”,并无需做特别处理; 7. 其所用到的化学试剂本地就能买到,价格低且用量很少买一次可以用好几年; 8. 从CVP21所测得的数据能带给研发或工艺人员三方面的信息:一是表面浓度,二是浓度变化曲线,三是结深(见图); 9. 表面浓度对于选择和使用适合的浆料很有帮助,如粘合性,接触电阻等的匹配问题; 10. 浓度分布曲线对掌握和改进扩散工艺提供依据; 11. 结深的信息对电池工艺的总体把握来说是必须的,也是扩散工艺时常需要抽测的项目之一; 12. 参考:测试出的几种扩散浓度分布曲线(见图); 13. 广泛的客户群:Q-CELL, NREL, ISFH, SHELL,ECN,RWE,HMI,SISE尚德,天合,晶澳,英利,交大泰阳,BYD,海润,晶科,吉阳,南玻,格林保尔…

Heller - 回流焊系统/垂直式固化炉

Heller - 回流焊系统/垂直式固化炉

  • 品牌: 美国Heller INDUSTRIES
  • 型号: Model 755
  • 产地:美国
  • 美国Heller Industries回流焊炉/垂直式固化炉Heller Industries 成立于一九六零年,并在八十年代首创对流式回流焊接设备。 多年来,Heller和其客户携手并进,致力于设备的创新和完善,以迎合更先进的制程需求。 立足创新与变革,Heller稳居全球回流焊领域的领导者地位,为全球的电子制造商和装配厂提供各种解决方案。Mark III 系列 - SMT 回流焊炉 Mark III 系列回流焊炉的出现,带来更低的使用成本。Heller回流焊炉在加热和冷却方面的发展,可以为您节省高达40% 的耗氮量和耗电量。 Mark III 系列不仅是最佳的回流焊系统,更具有业内最好的综合价值。 ? 无铅制程能力? 加强型加热模组? 新的助焊接剂收集系统-免维护? 直观的控制系统? 冷却能力可调? 标配Cpk软件 新的免维护助焊剂收集系统 新BlowThru冷却模组 强化型加热器模组 工艺控制-回流炉CPK软件 真空辅助回流炉Heller研发出可直接安装在普通热风回流炉内的真空模组? 有效减少 99% 焊接时空洞的产生? 实现在线式真空辅助回流? 高效的真空泵机组实现最小降压时间 真空辅助回流炉图示 Model 755 垂直式固化炉拥有全对流和超省氮等先进技术,可满足客户各种固化需求。特性:- 最小体积,小至185cm- 快速固化循环时间,低至 7.5 分钟- 可调节固化循环时间,可长达数小时- 可传输宽度, 由 7.5cm 至 25cm- 可在空气或氮气环境下保持温度的一致 (Nitrogen optional)- 符合SMEMA标准应用于:- Die attach- Flip Chip- Underfill- COB Encapsulation水冷式冷却及助焊剂回收系 水冷式冷却及助焊剂回收系 --ROI-- 免停机保养! Drain Tube with Collection JarCooling and Flux Separation System 简易的加热内芯更换及保养

易恩电气半导体综合参数测试仪

易恩电气半导体综合参数测试仪

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: ENJ2005-B
  • 产地:西安
  • 设备扩展性强,通过选件可以提高电压、电流和测试品质范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。 面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果。前面板的小键盘方便了系统操作。通过小键盘,系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。 系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口,可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。

易恩电气晶体管参数测试仪ENJ2005-C

易恩电气晶体管参数测试仪ENJ2005-C

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: ENJ2005-C
  • 产地:西安
  • ●IV曲线显示/局部放大 ●程序保护最大电流/电压,以防损坏 ●品种繁多的曲线 ●可编程的数据点对应 ●增加线性或对数 ●可编程延迟时间可减少器件发热 ●保存和重新导入入口程序 ●保存和导入之前捕获图象 ●曲线数据直接导入到EXCEL ●曲线程序和数据自动存入EXCEL 测试范围广(19大类、27分类

易恩电气IGBT静态测试仪

易恩电气IGBT静态测试仪

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: ENJ30200
  • 产地:西安
  • 1、综合参数测试,设备自身抗干扰能力高, 2、该测试系统涉及到多单元模块测试。 3、该测试系统完全采用自动控制,测试可按测试人员设定的程序进行自动测试。 4、该系统采用计算机记录测试结果,并可将测试结果转化为EXCEL 文件进行处理。

易恩电气大功率IGBT动态参数测试仪

易恩电气大功率IGBT动态参数测试仪

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: END2050
  • 产地:西安
  • 1)该测试系统是一套动态参数测试系统,所以对设备的分布参数,低感结构要求较高,难度比较大; 2)该测试系统涉及到多单元模块测试,其适配器的设计及加工具有很大的技术难度; 3)该测试系统完全采用自动控制,测试可按测试员设定的程序进行自动测试; 4)该系统采用计算机记录测试结果,并可将测试结果转化为EXCEL 文件进行处理

IPM 测试系统

IPM 测试系统

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: ENI1220
  • 产地:西安
  • 该系统是测试IPM的测试设备,输出电压3000v.电流3000A, 系统通过外接数字温度计来观察vf的特征在通过标准温度和测量温度下的温度特征

 浪涌测试系统

浪涌测试系统

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: ENL3010
  • 产地:西安
  • 测试范围 设备最大可输出17.7mS、80kA的电流,对被测器件进行浪涌电流试验; 功能概述 浪涌电流测试系统 该测试台通过电容充放电原理产生电流波形,根据不同的测试条件,设定好各试验参数,再通过调节不同的电感值(手动调节)来改变不同的电流宽度来输出测试要求的电流值,测试的电压和电流波形同时被采集到示波器和相关的控制电路,反馈给PLC,并由HMI显示测试结果;

热阻测试系统

热阻测试系统

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: ENR0620
  • 产地:西安
  • 本系统测试原理符合 JEDEC51-1 定义的动态及静态测试方法)运用实时采样静态测试方法(Static Method),广泛用于测试各类 IC(包括二极管、三极管、MOSFET、IGBT、SOC、SIP、MEMS 等)、大功率 LED、导热材料、散热器、热管等的热阻、热容及导热系数、接触热阻等热特性。

功率循环测试系统

功率循环测试系统

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: ENG1220 IGBT
  • 产地:西安
  • ENG1220型IGBT功率循环测试设备的测试方法符合GB/T29332-2012/IEC 60747-9:2007及GB4023-83等相关标准。 IGBT功率循环测试设备,是IGBT测试的重要检测设备,该设备具有如下特点: 1.该测试系统是一套动态综合的测试系统,测试参数多,设备测试数据精度高。 2.该测试系统是一套大电流测试设备,设备的电气性能要求高。 3.该测试系统具有过流、过热、水压不足等保护功能。具有连续工作的特点。 4.该系统的测试程序由计算机控制,测试可按测试员设定的程序进行自动测试。 5.该测试系统采用内控和外控两种方式。便于工作人员操作。 6.该系统采用计算机记录测试结果,并可将测试结果转化为EXCEL文件进行处理。 7.该测试系统是IGBT模块成品可靠性检验测试中不可缺少的专用测试设备。

IGBT试验台系列

IGBT试验台系列

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: EN-2006
  • 产地:西安
  • 该系统符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、GJB128、 JEDEC标准试验要求。可供半导体器件配以适当的温度可控装置, 作交流阻断(或反偏)耐久性/ 筛选试验。能满足IGBT进行高温反 偏耐久性试验、高温漏电流测试(HTIR)和老炼筛选。

西安厂家直供高温阻断试验台

西安厂家直供高温阻断试验台

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: EN-GWZD
  • 产地:西安
  • 该系统符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、GJB128、 JEDEC标准试验要求。可供半导体器件配以适当的温度可控装置, 作交流阻断(或反偏)耐久性/ 筛选试验。能满足IGBT进行高温反 偏耐久性试验、高温漏电流测试(HTIR)和老炼筛选。

大功率高温反偏试验台

大功率高温反偏试验台

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: EN-GWFP
  • 产地:西安
  • IGBT高压反偏试验是在一定温度条件(125℃)下,按照规定的时间和电压,对IGBT施加反偏电压,从而对器件进行质量检验和耐久性评估的一种主要试验方法。 DBC-320测试台是专为IGBT模块进行高温反偏试验而进行设计,是IGBT出厂检测的重要设备。该试验台可对相应的IGBT器件进行适配器匹配,同时对48只器件进行试验。测试标准符合MIL-STD-750,IEC 60747。本设备采用计算机自动控制系统,后台软件实时监控、自动处理目标数据,具有测试精度高、操作方便、高效等优点。

厂家直供正向寿命试验台

厂家直供正向寿命试验台

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: EN-ZXSM
  • 产地:西安
  • 绝缘栅双极型晶体管(Insulated Gate Bipolar Transistor,简称IGBT)作为功率开关器件,具有载流密度大、饱和压降低等 许多优点, 但是由于其长期工作在高电压、大电流、高频开关状态等且运行环境复杂,IGBT功耗和结温频繁波动容易造成器件疲劳老化。目前国内外温度循环引起的器件失效机理已进行了深入研究,在此基础上正积极发展功率模块寿命预测技术以提高变流器运行可靠性。

厂家直供功率器件动态参数测试单元

厂家直供功率器件动态参数测试单元

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: EN-AC1220
  • 产地:西安
  • EN-AC1220型功率器件动态参数测试单元,是一款专为功率器件测试用户设计开发 的低成本、组合式、低电感、高精度、手动测试单元。可实现对IGBT、MOS FET、二极 管的多种动态参数的精确测试,测试原理符合国军标。 产品的使用是由多种配套产品组合而成,用户根据自身现有资源自选搭配,让企 业现有的资产高效使用,避免资产重复购置。 产品旨在解决目前业内动态成套测试系统价格高昂而给中小微韦德国际1946手机版造成的资金压力和 测试瓶颈。该产品是一款真正意义上的,能够解决测试需求的“高指标,低成本”简化产 品。 该产品由国内数位半导体产业资深专家及教授协作开发,为从事功率半导体产业的测 试用户奉上一款良心产品。

栅电荷测试系统

栅电荷测试系统

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: ENS1040
  • 产地:西安
  • ENS1040栅电荷测试系统功能指标测量参数技术条件开启栅电荷QgOnId=1 to 100Amps存储电荷QgsVdd=5 to 95v平台电荷QgdVg=+/-1 to+/-19V平台电压PlateauVoltageIg=0.1 to 10maId@threshold=100 to 1000ua导通电阻RdsOnQg=0.5 to 500nc栅电阻RgRds(0n)=0.001 to 2.0Ohms阈值电压GateThresholdVotageGate/DrainwaveformCapture/storage

高精度大功率晶闸管综合测试仪

高精度大功率晶闸管综合测试仪

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: DBC-226
  • 产地:西安
  • 晶闸管综合参数测试系统,是大功率晶闸管测试的重要检测设备,该设备具 有如下特点: 1. 该测试系统是一套综合的测试系统,综合测试参数多,技术难度大。 2. 该测试系统是一套高压大电流的测试设备,对设备的电气性能要求高。 3. 该系统是一套动态和静态参数的集成测试系统,因此该设备的结构设计难度大。 4. 该系统的测试控制完全采用自动控制,测试可按测试员设定的程序进行自动测试。 5. 该系统采用计算机记录测试结果,并可将测试结果转化为 Excel 文件进行处理。 6. 该测试系统是晶闸管出厂检验测试中不可缺少的专用测试设备。该套测试设备主要测试晶闸管。

西安厂家直供大功率MOS动静态测试系统

西安厂家直供大功率MOS动静态测试系统

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: EN-MOS
  • 产地:西安
  • 此设备具有以下测试单元。注:开关时间,二极管反向恢复,栅极电荷需要可在分装后测试,静态参数及雪崩测试需要在加电容前测试。 开关时间测试单元 开启延迟时间(Td(on)) 上升时间(Tr) 关断延迟时间(Td(off)) 下降时间(Tf) 开启损耗Eon 关断损耗Eoff 二极管反向恢复测试单元 反向恢复时间(Trr) 反向恢复电荷(Qrr) 栅极电荷测试单元 阈值电荷(Qg(th)) 栅电荷(Qg) 静态全参数测试单元 RDS(ON) VGS(th) TDSS IGSS VSD R25 雪崩测试单元 雪崩电流(I),雪崩电压(V),雪崩能量(E)

美国STI 替代品 易恩半导体分立器件测试系统

美国STI 替代品 易恩半导体分立器件测试系统

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: EN-2005B
  • 产地:西安
  • 测试范围广(19总大类,27分类) 升级扩展性强,通过选件可提升电压电流,和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A 采用脉冲测试法,脉冲宽度为美军标规定300uS 被测器件引脚接触自动判断功能,遇到器件接触不良时系统自动停止测试,确保被测器件不受损坏 真正的动态跨导测试。(主流的直流方法测动态跨导,其结果与器件实际偏差很大) 系统故障在线判断修复能力,便于应急处理排除故障 二极管极性自动判断功能,无需人工操作

日本岩崎 替代品 易恩晶体管特性曲线图示仪

日本岩崎 替代品 易恩晶体管特性曲线图示仪

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: EN-2005C
  • 产地:西安
  • 西安易恩电气 EN-2005C是一款很具有代表性的新型半导体晶体管图示系统,本系统可自动生成功率器件的I-V曲线,也可根据客户的实际需求设置功能测试,直接读取数显结果。系统在失效分析,IQC来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立,保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来,数据捕获的曲线可导入EXCEL等格式进一步分析研究,是一款高效多功能的高端半导体测试设备。

美国ITC 替代品 易恩大功率IGBT静态测试仪

美国ITC 替代品 易恩大功率IGBT静态测试仪

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: EN-3020C
  • 产地:西安
  • EN—3020C测试系统(以下简称系统)是西安易恩电气科技韦德国际1946手机版推出的IGBT静态测试系统,该系统符合国军标GJB128-86和国家标准GB/T 4587-94测试规范。 系统适合工厂、研究所用做IGBT及其模块的筛选、检验、分析以及器件生产厂用做生产测试,是一款针对IGBT的各种静态参数而研制的智能测试系统。 系统标准功率源为3500V/200A,电流可扩展至2000A。 系统的自动化程度高,按照操作人员设定的程序自动工作,实现全自动化的智能测试,计算机记录测试结果,测试结果可转化为文本或 EXCEL 格式存储。测试方法灵活,可完美测试器件以及单个单元和多单元的模块测试。 系统采用品牌工控机,具有抗电磁干扰能力强,排风量大等特点 系统安全稳定,PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁。

 瑞士LEMSYS 替代品 易恩IGBT动态参数测试仪

瑞士LEMSYS 替代品 易恩IGBT动态参数测试仪

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: EN-2020A
  • 产地:西安
  • EN-2020A半导体器件动态参数测试系统,该系统是针对IGBT器件的开关性特性及IGBT内部续流二极管的反向恢复特性而专门设计的一套全自动测试系统,适用于电流不超过1500A和集电极电压不超过3500V的IGBT器件开关时间测试以及正向电流不超过2000A的二极管反向恢复特性的测试。

日本科佩尔 替代 易恩IPM测试仪

日本科佩尔 替代 易恩IPM测试仪

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: ENI1220
  • 产地:西安
  • IPM模块需要测试的特性参数很多,其中最关键的测试参数为开关特性(时间特性)的测量。该系统在解决IPM的控制信号以及高速数据采集处理两个关键技术的条件下,是一套基于DSP及FPGA的高速实时测试系统。

日本JUNO 替代品 易恩热阻测试仪

日本JUNO 替代品 易恩热阻测试仪

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: ENR0620
  • 产地:西安
  • 西安易恩电气ENR0620 热阻测试系统,本系统测试原理符合 JEDEC51-1 定义的动态及静态测试方法)运用实时采样静态测试方法(Static Method),广泛用于测试各类 IC(包括二极管、三极管、MOSFET、IGBT、SOC、SIP、MEMS 等)、大功率 LED、导热材料、散热器、热管等的热阻、热容及导热系数、接触热阻等热特性。

日本CATS 替代 易恩栅电荷测试系统

日本CATS 替代 易恩栅电荷测试系统

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: ENS1040
  • 产地:西安
  • 日本CATS 替代 易恩栅电荷测试系统ENS1040栅电荷测试系统功能指标测量参数技术条件开启栅电荷QgOnId=1 to 100Amps存储电荷QgsVdd=5 to 95v平台电荷QgdVg=+/-1 to+/-19V平台电压PlateauVoltageIg=0.1 to 10maId@threshold=100 to 1000ua导通电阻RdsOnQg=0.5 to 500nc栅电阻RgRds(0n)=0.001 to 2.0Ohms阈值电压GateThresholdVotageGate/DrainwaveformCapture/storage

JUNO测试仪 替代品 易恩晶闸管综合测试仪

JUNO测试仪 替代品 易恩晶闸管综合测试仪

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: DBC-226
  • 产地:西安
  • 晶闸管综合参数测试系统,是大功率晶闸管测试的重要检测设备,该设备具 有如下特点: 1. 该测试系统是一套综合的测试系统,综合测试参数多,技术难度大。 2. 该测试系统是一套高压大电流的测试设备,对设备的电气性能要求高。 3. 该系统是一套动态和静态参数的集成测试系统,因此该设备的结构设计难度大。 4. 该系统的测试控制完全采用自动控制,测试可按测试员设定的程序进行自动测试。 5. 该系统采用计算机记录测试结果,并可将测试结果转化为 Excel 文件进行处理。 6. 该测试系统是晶闸管出厂检验测试中不可缺少的专用测试设备。该套测试设备主要测试晶闸管。

美国吉时利 替代品 易恩MOS测试仪

美国吉时利 替代品 易恩MOS测试仪

  • 品牌: 西安易恩电气
  • 型号: EN-MOS
  • 产地:西安
  • 此设备具有以下测试单元。注:开关时间,二极管反向恢复,栅极电荷需要可在分装后测试,静态参数及雪崩测试需要在加电容前测试。 开关时间测试单元 开启延迟时间(Td(on)) 上升时间(Tr) 关断延迟时间(Td(off)) 下降时间(Tf) 开启损耗Eon 关断损耗Eoff 二极管反向恢复测试单元 反向恢复时间(Trr) 反向恢复电荷(Qrr) 栅极电荷测试单元 阈值电荷(Qg(th)) 栅电荷(Qg) 静态全参数测试单元 RDS(ON) VGS(th) TDSS IGSS VSD R25 雪崩测试单元 雪崩电流(I),雪崩电压(V),雪崩能量(E)

金一电力 可控硅控制器CF2B-2B

金一电力 可控硅控制器CF2B-2B

  • 品牌:
  • 型号: 可控硅控制器CF2B-2B
  • 产地:北京
  • 本控制器为可控硅单相可控整流或单相交流调压通用的闭环触发控制器。适用于单相全波、单相半控桥整流电路和双向可控硅或普通可控硅反并联的单相交流调压电路。设有PI调节器,通过改变跳线或外接转换开关可实现恒压控制或恒流控制,并具有过流保护、软启动和脉冲封锁功能,触发输出为宽脉冲列,还设有隔离脉冲变压器和工作电源变压器。本控制器结构紧凑、工作指示明晰、使用方便、接线简单、工作可靠。通过开关切换也可实现不经PI调节器的开环直接移相控制(过流保护功能仍起作用)。

等离子刻蚀ICP

等离子刻蚀ICP

  • 品牌: 美国Trion
  • 型号: Minilock-Phantom III ICP
  • 产地:美国
  • Minilock-Phantom III具有预真空室的反应离子刻蚀机可适用于单个基片或带承片盘的基片(3”- 300mm尺寸),为实验室和试制线生产环境提供最先进的刻蚀能力。它也具有多尺寸批处理功能(4x3”; 3x4”; 7x2”)。系统有多达七种工艺气体可以用于刻蚀各种薄膜,如氧化硅、氮化硅、多晶硅、铝、砷化镓、铬、铜、磷化铟和钛。该反应室还可以用于去除光刻胶和有机材料。可选配静电吸盘(E-chuck),以便更有效地在刻蚀工艺中让基片保持冷却。该E-chuck使用氦压力控制器,及在基片背面保持一个氦冷却层,从而达到控制基片温度的作用。该设备可选配一个电感耦合等离子(ICP)源,其使得用户可以创建高密度等离子,从而提高刻蚀速率和各向异性等刻蚀性能。基片通过预真空室装入。其避免与工艺室以及任意残余刻蚀副产品接触,从而提高了用户安全性。预真空室还使得工艺室始终保持在真空下,从而隔绝外部湿气,防止反应室内可能发生的腐蚀。

MPS-150 Series

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