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工具显微镜/测量显微镜

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工具显微镜/测量显微镜

工具显微镜/测量显微镜概述

工具显微镜/测量显微镜是一种以光学(显微镜)瞄准和坐标(工作台)测量为基础的机械式光学仪器,可用于测量各种长度和角度,用于平面乃至三维数据的测量。特别适合于测量各种复杂的工具和零件,如螺纹、凸轮的轮廓、切削刀具和孔间距等。工具显微镜/测量显微镜主要分为:小型工具显微镜、大型工具显微镜、万能工具显微镜和重型万能工具显微镜等。
107JPC-1上海长方增强型测量显微镜

107JPC-1上海长方增强型测量显微镜

品牌:上海长方
型号:107JPC-1
VITT SQM-FA测量显微镜

VITT SQM-FA测量显微镜

品牌:维埃迪光
型号:SQM-FA
微机型万能工具显微镜19JPC

微机型万能工具显微镜19JPC

品牌:上海蒲柘光电
型号:19JPC
北京哈科液晶玻璃尺寸测量仪显微镜HK-JTM-260180A

北京哈科液晶玻璃尺寸测量仪显微镜HK-JTM-260180A

品牌:北京哈科
型号:HK-JTM-260180A
工具测量显微镜 Swift Pro Elite

工具测量显微镜 Swift Pro Elite

品牌:微视
型号:Swift Pro Elite
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不限 中国大陆 大洋洲欧洲亚洲美洲
厂商性质
不限 生产商授权代理商一般经销商
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107J-1上海长方测量显微镜

107J-1上海长方测量显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: 107J-1
  • 产地:上海
  • 107J-1 普通型测量显微镜:采用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量。特别适用于电子行业,机械精加工。用来测量电子线路的宽度和精细小工件的几何尺寸,以及其它精密零件测。广泛地适用于计量室,生产作业线以及科学研究等部门。

15JE-1上海长方数显测量显微镜

15JE-1上海长方数显测量显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: 15JE-1
  • 产地:上海
  • 15JE-1 数显型测量显微镜是光学计量仪器之一种,它的结构简单,操作方便,适用范围极广,主要用途如下: 1.直角座标中测定长度,例如测定孔距,基面距离,刻线距离,刻线宽度,键槽宽度,狭缝宽度,通孔圆直径等。 2.转动度盘测定角度,例如对刻度盘,样板、量规,钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。 3.数显型测量显微镜可用作观察显微镜,以比较检查工作表面光洁度,鉴定冶金工业的矿石标本。

15JA-1上海长方测量显微镜

15JA-1上海长方测量显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: 15JA-1
  • 产地:上海
  • 15JA-1 测量显微镜是光学计量仪器之一,它结构简单、操作方便,适用范围极广,主要用途如下 1.直角座标中测定长度,例如测定孔距,基面距离,刻线距离,刻线宽度,键槽宽度,狭缝宽度,通孔圆直径 2.转动度盘测定角度,例如对刻度盘,样板、量规,钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。 3.测量显微镜可用作观察显微镜,以比较检查工作表面光洁度,鉴定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版,检验纺织

15J-1上海长方测量显微镜

15J-1上海长方测量显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: 15J-1
  • 产地:上海
  • 15J-1 普通型测量显微镜是光学计量仪器之一种,它的结构简单,操作方便,适用范围极广,主要用途如下: 1.直角座标中测定长度,例如测定孔距,基面距离,刻线距离,刻线宽度,键槽宽度,狭缝宽度,通孔圆直径等等。 2.转动度盘测定角度,例如对刻度盘,样板、量规,钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。 3.测量显微镜用作观察显微镜,以比较检查工作表面光洁度,鉴定冶金工业的矿石标本。

107JPC-1上海长方增强型测量显微镜

107JPC-1上海长方增强型测量显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: 107JPC-1
  • 产地:上海
  • 107JPC-1 增强型测量显微镜:采用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量。特别适用于电子行业,机械精加工。用来测量电子线路的宽度和精细小工件的几何尺寸,以及其它精密零件测。增强型测量显微镜广泛地适用于计量室,生产作业线以及科学研究等部门。

107JC-1上海长方电脑型测量显微镜

107JC-1上海长方电脑型测量显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: 107JC-1
  • 产地:上海
  • 107JC-1 电脑型测量显微镜:采用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量。特别适用于电子行业,机械精加工。用来测量电子线路的宽度和精细小工件的几何尺寸,以及其它精密零件测量。电脑型测量显微镜广泛地适用于计量室,生产作业线以及科学研究等部门。

107JA-1上海长方数显测量显微镜

107JA-1上海长方数显测量显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: 107JA-1
  • 产地:上海
  • 107JA-1 数显型测量显微镜:采用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量。特别适用于电子行业,机械精加工。用来测量电子线路的宽度和精细小工件的几何尺寸,以及其它精密零件测量。数显测量显微镜广泛地适用于计量室,生产作业线以及科学研究等部门。

15JC-1上海长方电脑型测量显微镜

15JC-1上海长方电脑型测量显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: 15JC-1
  • 产地:上海
  • 15JC-1 电脑型测量显微镜是光学计量仪器之一种,它的结构简单,操作方便,适用范围极广,主要用途如下: 1.直角座标中测定长度,例如测定孔距,基面距离,刻线距离,刻线宽度,键槽宽度,通孔圆直径等 2.转动度盘测定角度,例如对刻度盘,样板、量规,钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。 3.用作观察显微镜,以比较检查工作表面光洁度,鉴定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版,检验纺织纤维

JXB-CA上海长方电脑型读数显微镜

JXB-CA上海长方电脑型读数显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: JXB-CA
  • 产地:上海
  • JXB-CA 电脑型读数显微镜是光学计量仪器之一,它的结构简单,操作方便,应用范围很广, 其主要用途如下: 1、作长度测定。如定孔距。基面距离刻线距离、刻线宽度以及通孔外圆的直径等。

JXB-DA上海长方读数显微镜

JXB-DA上海长方读数显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: JXB-DA
  • 产地:上海
  • JXB-DA 读数显微镜是光学计量仪器之一,结构简单,操作方便,应用范围很广, 其主要用途如下: 1、读数显微镜可作长度测定。如定孔距。基面距离刻线距离、刻线宽度以及通孔外圆的直径等。 2、读数显微镜能扩大一般显微镜使用范围,可在不同方向上测量。 3、读数显微镜可作观察显微镜,可判别矿石标本,检查印刷照像底板。由于测量架能脱 开底座,可固定在机床上直接对加工零件进行检查。

WL-N上海长方便携读数显微镜

WL-N上海长方便携读数显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: WL-N
  • 产地:上海
  • 便携式读数显微镜 WL-20、WL-40、WL-50、WL-100能广泛应用于工厂生产现场的检验测量和实验室的观察研究,尤其适用于电子、机械制造业,纸张制造业,印刷业,纺织业等的生产现场检查。该产品体积小,重量轻,造型新颖,操作简便,也可供学生实验使用。

JC4-10B上海长方手持读数显微镜

JC4-10B上海长方手持读数显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: JC4-10B
  • 产地:上海
  • 手持型读数显微镜结构简单、使用方便。可作测定孔距、刻线宽度、刻线距离、键槽宽度、狭缝凹痕、宽度、长度、金属表面质量、纤维、织物密度、野外标本等。 手持型读数显微镜尤其适合测量布氏、洛氏及维氏硬度试验压痕尺寸。

JC-10B上海长方读数显微镜

JC-10B上海长方读数显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: JC-10B
  • 产地:上海
  • 便携式读数显微镜结构简单、使用方便。可作测定孔距、刻线宽度、刻线距离、键槽宽度、狭缝凹痕、宽度、长度、金属表面质量、纤维、织物密度、野外标本等。 便携式读数显微镜尤其适合测量布氏、洛氏及维氏硬度试验压痕尺寸。

JC4-10A上海长方读数显微镜

JC4-10A上海长方读数显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: JC4-10A
  • 产地:上海
  • 手持型读数显微镜结构简单、使用方便。可作测定孔距、刻线宽度、刻线距离、键槽宽度、狭缝凹痕、宽度、长度、金属表面质量、纤维、织物密度、野外标本等。 手持型读数显微镜尤其适合测量布氏、洛氏及维氏硬度试验压痕尺寸。

JC-10A上海长方读数显微镜

JC-10A上海长方读数显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: JC-10A
  • 产地:上海
  • 便携式读数显微镜结构简单、使用方便。可作测定孔距、刻线宽度、刻线距离、键槽宽度、狭缝凹痕、宽度、长度、金属表面质量、纤维、织物密度、野外标本等。 便携式读数显微镜尤其适合测量布氏、洛氏及维氏硬度试验压痕尺寸。

IME-2上海长方数显工具显微镜

IME-2上海长方数显工具显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: IME-2
  • 产地:上海
  • IME-2数显型工具显微镜能方便地读取数显表头示值,测量工件的孔径、孔距等尺寸以及角度、使用任选的目镜组还能检验螺纹以及齿轮形状等。数显型工具显微镜设计非常紧凑、重量轻、最适合设置在加工现场受到限制的场所。

JGX-1A上海长方工具显微镜

JGX-1A上海长方工具显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: JGX-1A
  • 产地:上海
  • 小型工具显微镜JGX-1A是应用非常广泛的精密光学计量仪器之一。测量范围广、精确可靠、操作方便,因而特别适用于精密机械制造与工具制造工业。小型工具显微镜主要使用范围如下: 1.测定形状样板,样板刀等按照直角座标进行测定。 2.测定螺纹;螺纹的中径、外径、内径的测定,测定螺距,螺形角,螺形角对螺纹轴的轮廓位置和螺纹形状 3.测定角度:测定螺纹梳形车刀,螺纹铣刀的螺形角

IMPC-1电脑型工具显微镜

IMPC-1电脑型工具显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: IMPC-1
  • 产地:上海
  • IMPC-1 电脑型工具显微镜能方便地读取测微表头示值,配有高精度的工作平台,日本进口摄像器。可以直接在计算机屏幕上瞄准,无须人眼瞄准,减小人为误差。测量工件的孔径、孔距等尺寸以及角度、使用任选的目镜组还能检验螺纹以及齿轮形状等。电脑型工具显微镜设计非常紧凑、重量轻、最适合设置在加工现场受到限制的场所。 是一种理想的多用途的小型精密测量仪器。

IMC-1上海长方影像工具显微镜

IMC-1上海长方影像工具显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: IMC-1
  • 产地:上海
  • IMC-1 影像型工具显微镜能方便地读取测微表头示值,配有高精度的工作平台,日本进口摄像器。可以直接在计算机屏幕上瞄准,无须人眼瞄准,减小人为误差。测量工件的孔径、孔距等尺寸以及角度、使用任选的目镜组还能检验螺纹以及齿轮形状等。影像工具显微镜设计非常紧凑、重量轻、最适合设置在加工现场受到限制的场所。 是一种理想的多用途的小型精密测量仪器。

IME-1上海长方数显工具显微镜

IME-1上海长方数显工具显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: IME-1
  • 产地:上海
  • IME-1 数显型工具显微镜能方便地读取数显表头示值,测量工件的孔径、孔距等尺寸以及角度、使用任选的目镜组还能检验螺纹以及齿轮形状等。数显型工具显微镜设计非常紧凑、重量轻、最适合设置在加工现场受到限制的场所。

JGX-2A上海长方大型工具显微镜

JGX-2A上海长方大型工具显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: JGX-2A
  • 产地:上海
  • JGX-2A 型大型工具显微镜是一种最基础的精密光学测量仪器。备有多种附件,从而使测量项目有所增加。并配备不同的放大倍率,以便对微小工件也能作精确的测定。大型工具显微镜为机器制造工厂、科学研究机关及高等院校的计量部门广泛使用的一种多性能计量仪器。作为工具制造厂产品鉴定的基本工具,也适用于其它精密机械制造厂,科学研究单位及学校等,供生产或科学研究之用。

JX14AC上海长方大型数显工具显微镜

JX14AC上海长方大型数显工具显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: JX14AC
  • 产地:上海
  • JX14AC 数显型工具显微镜在机器制造厂、科学研究机关及高等院校的计量部门或车间检查站广泛就应用。数显型工具显微镜采用光栅尺作为长度测量传感器,长度值采用数字显示,具有较高的测量精度和操作效率。

JGX-2EA上海长方大型数显工具显微镜

JGX-2EA上海长方大型数显工具显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: JGX-2EA
  • 产地:上海
  • JGX-2EA 数显型工具显微镜是一种最基础的精密光学测量仪器.仪器备有多种附件,从而使测量项目有所增加。并配备不同的放大倍率,以便对微小工件也能作精确的测定. 大型工具显微镜为机器制造工厂、科学研究机关及高等院校的计量部门广泛使用的一种多性能计量仪器。作为工具制造厂产品鉴定的基本工具,也适用于其它精密机械制造厂,科学研究单位及学校等,供生产或科学研究之用。

19JPC-1上海长方万能工具显微镜

19JPC-1上海长方万能工具显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: 19JPC-1
  • 产地:上海
  • 19JPC-1 电脑型万能工具显微镜,是应用计算机辅助测量的新一代万能工具显微镜,能解决各种复杂的二维测量问题。传统的万工显对于视场中不能直接观测到的几何元素,如园心、中点.交点.中心线及其相互距离。夹角等等都很难进行测量,而在19JPC 仪器上均能迎刃而解。电脑型万能工具显微镜采用精密光栅传感器和PC系列微机以及数据接口卡采集测量数据,同时以19JPC二维测量程序进行数据处理、显示并打印测量结果

19JC-1上海长方数字式万能工具显微镜

19JC-1上海长方数字式万能工具显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: 19JC-1
  • 产地:上海
  • 19JC-1 数字式万能工具显微镜以直观的数字显示和数字打印方式取代了普通万工显的目视读数方式,以影像法和轴切法按直角坐标与极坐标精确地测量各种零件,是机械加工韦德国际1946手机版、电子制造业、计量测试所广泛使用的多用途计量仪器。 数字式万能工具显微镜典型测量对象有: 测量各种成型零件如样板、样板车刀、样板铣刀、冲模和凸轮的形状。 测量外螺纹(螺纹塞规、丝杆和蜗杆等)的中径、大径、小径、螺距、牙型角。

光学和视频双系统测量显微镜 Hawk Duo

光学和视频双系统测量显微镜 Hawk Duo

  • 品牌: 英国VISION
  • 型号: Hawk Duo
  • 产地:英国
  • 适用于要求高质量和灵活性的应用中。Hawk Duo单个系统结合了光学测量和视频测量两种技术,因此,无论您测量什么样的部件,它都是最理想的选择。测量范围可达400mmx300mmDynascope光学显微镜技术能够提供清晰度无与伦比的图像,使测量得以精确、轻松地完成。集成了视频测量,实现终极控制功能和灵活性。英国工业显微镜韦德国际1946手机版将符合人机工学要求的测量显微镜与视频测量系统相结合,创造了Hawk Duo。Hawk Duo能够灵活测量常规和难以观察的部件,因此,无论您测量哪种部件,它都是最理想的选择。Hawk Duo 能够极其精确地重复性测量所有材质的复杂零件,在常规和难以观察的零件的测量方面特别突出,例如黑色或者透明塑料-这是多合一系统!两种测量系统二合一 - 扩展更多功能光学和视频双测量技术使得Hawk Duo成为以下应用情况下的理想之选检测那些边缘容易识别,但是某些特征难以观察的对象,例如:彩色塑料。同时需要常规测量和关键尺寸测量的对象,例如医疗器械。需要批量检测和一次性检测的零部件。系统详细信息* 相关配置。**以10倍微距物镜为基础(100倍系统放大倍率)。其中L=测得的长,单位mm(200倍系统放大倍率,采用受控条件)。

哈科精密影像测量仪手动机HK-EVM-G

哈科精密影像测量仪手动机HK-EVM-G

  • 品牌: 北京哈科
  • 型号: HK-EVM-G
  • 产地:北京
  • 本系列是一款高精度影像测量仪,结合传统光学与最新影像技术并配备功能完备的2.5D测量软件。可将以往用肉眼在传统显微镜下观察到的影像传输到电脑中作各种量测,并将测量结果存入电脑中以便日后存档或发送电子邮件。其操作简单、性价比高、精确度高、测量方便、功能齐全、稳定可靠。适用于产品检测、工程开发、品质管理。在机械加工、精密电子、模具制造、塑料橡胶、五金零件等行业都有广泛使用。

全自动精密影像测量仪HK-VMS-4030H

全自动精密影像测量仪HK-VMS-4030H

  • 品牌: 北京哈科
  • 型号: HK-VMS-4030H
  • 产地:北京
  • ? 自主开发QMS3D软件,可满足客户不同测量需求 ? 具有快速自动对焦、自动寻边,强大的编程和自动测量功能 ? 采用亚像素细分技术,提高边界分辨能力 ? 配置操纵手柄,亦可软件程控 ? SPC数据处理分析,大批量治具测量 ? X、Y、Z三轴伺服控制,定位精度高速度快,运行平稳 ? 采用自主开发的嵌入式模块控制系统,将复杂的控制系统集成于仪器内部,稳定性更高 ? 程控恒流驱动式八区表面冷光光源,可适应复杂的工件测量 ? 可通过激光指示器寻找被测工件的具体位置,快速定位,方便快捷

单视场影像测量仪HK-TOMMY-II

单视场影像测量仪HK-TOMMY-II

  • 品牌: 北京哈科
  • 型号: HK-TOMMY-II
  • 产地:北京
  • 产品名称:单式场精密影像测量仪 产品品牌:HK-TOMMY-II 产品简介:经济型精密影像测量仪TOMMY-II系列主要适合测量精密、微小的工件,价格便宜、结构简单,操作方便,在测量行业内得到好评。本仪器在秉承了HL-TOMMY-II优点的基础之上加以改进,使您更加快捷、轻松的完成测量工作。广泛适用于五金机械,冶金模具、汽车航空,电子纺织、科研院校等行业。

LEXT OLS4500纳米检测显微镜

LEXT OLS4500纳米检测显微镜

  • 品牌: 日本奥林巴斯
  • 型号: LEXT OLS4500
  • 产地:日本
  • LEXT OLS4500纳米检测显微镜为您带来最新的解决方案实现纳米级观测的新型显微镜。不会丢失锁定的目标。(电动物镜转换器切换倍率和观察方法)有涵盖了低倍观察到高倍观察的4种物镜,并在电动物镜转换器上装配了SPM单元。可以无缝切换倍率和观察方法,不会丢失观察对象。此外,该款显微镜可以进行纳米级观测。涵盖了低倍到高倍观察,并配有多种观察方法可以迅速发现观察对象。可以完成低倍到高倍的大范围倍率观察。不仅如此,先进光学技术打造的光学显微镜带来多种观察方法,可以容易的发现观察对象。此外,对于光学显微镜难以找到的观察对象,还可以使用激光显微镜进行观察。在激光微分干涉(DIC) 观察中,可以进行纳米级微小凹凸的实时观察。明视场观察(IC元件)                        微分干涉(DIC)观察                         激光微分干涉(DIC)观察缩短从放置样品到获取影像的工作时间。放置好样品后,所有的操作都在1台装置上完成。可以迅速,正确的把观察对象移到SPM显微镜下面,所以只要扫描1次就能获取所需的SPM影像。一体机的机型,所以无需重新放置样品只要在1台装置上切换倍率、观察方法就能够灵活应对新样品。OLS4500是把光学显微镜、激光显微镜、探针显微镜融于一体的一体机,所以无需重新放置样品,即可自由切换3种显微镜进行观察和评价。这3种显微镜各自持有优异的性能,所以能够高效输出最佳结果。 OLS4500实现了无缝观察和测量【发现】可以迅速发现观察对象使用光学显微镜的多种观察方法, 迅速找到观察对象OLS4500采用了白色LED光源, 可以观察到颜色逼真的高分辨率彩色影像。它装有4种物镜, 涵盖了低倍到高倍的大范围观察。OLS4500充分发挥了光学观察的特长, 除了最常使用的明视场观察(BF)以外, 还可以使用对微小的凹凸添加明暗对比, 达到视觉立体效果的微分干涉观察(DIC), 以及用颜色表现样品偏光性的简易偏振光观察。此外, OLS4500上还配有HDR功能(高动态范围功能), 该功能使用不同的曝光时间拍摄多张影像后进行合成, 来显示亮度平衡更好、强调了纹理的影像。在OLS4500上您可以使用多种观察方法迅速找到观察对象。 BF 明视场最常使用的观察方法。在观察中真实再现样品的颜色。适用于观察有明暗对比的样品。DIC 微分干涉对于在明视场观察中看不到的样品的微小高低差,添加明暗对比使之变为立体可视。适用于观察金相组织、硬盘和晶圆抛光表面之类镜面上的伤痕或异物等。简易偏振光照射偏振光(有着特定振动方向的光线),使样品的偏光性变为肉眼可视。适用于观察金相组织、矿物、半导体材料等。HDR 高动态范围使用不同曝光时间拍摄多张影像并进行影像合成,可以观察平衡度较好的明亮部分和阴暗部分。此外,还可以强调纹理(表面状态),进行更精细的观察。 使用激光显微镜,可以观察到光学显微镜中难以观察到的样品影像OLS4500采用了短波长405 nm的激光光源和高N.A.的专用物镜, 实现了优异的平面分辨率。能以鲜明的影像呈现出光学显微镜中无法看到的观察对象。在激光微分干涉(DIC)模式中还可以实时观察纳米级的微小凹凸。  明视场观察(玻璃板上的异物)          激光微分干涉观察【接近】迅速发现观察对象,在SPM上正确完成观察实现了无缝观察,不会丢失观察对象OLS4500在电动物镜转换器上装配了涵盖低倍到高倍观察的4种物镜, 以及小型SPM单元。在光学显微镜或激光显微镜的50倍、100倍的实时观察中, 由于SPM扫描范围一直显示于视场中心, 所以把观察目标点对准该位置后, 只要切换到探针显微镜, 就能够正确接近观察对象。因此, 只需1次SPM扫描就能获取目标影像, 从而能够提高工作效率并降低微悬臂的损耗。不会在SPM观察中迷失的、可切换式向导功能使用探针显微镜开始观察之前, 可以在向导画面上设置所需的条件, 如安装微悬臂、扫描范围等。所以经验较少的操作者也能安心完成操作。【纳米级测量】简单操作,可以迅速获得测量结果新开发的小型SPM测头, 减少了影像瑕疵新开发的小型SPM测头OLS4500采用了装在电动物镜转换器上的物镜型SPM测头。同轴、共焦配置了物镜和微悬臂前端,所以切换SPM观察时不会丢失观察目标点。不仅如此,新开发的小型SPM测头提高了刚性,所以与传统产品相比,减少了影像瑕疵并提高了可追踪性。使用向导功能,自由放大SPM影像使用向导功能, 可以观察时进一步放大探针显微镜拍到的影像的所需部分倍率。只要在影像上用鼠标指针设置放大范围并扫描, 就可以获取所需的SPM影像。可以自由设置扫描范围, 所以大幅度提高了观察和测量的效率。向导功能在10μm×10μm影像上放大3.5μm×3.5μm范围优异的分析功能, 应对各种测量目的曲率测量(硬盘的伤痕)OLS4500能够根据您的测量目的分析在各种测量模式中获取的影像,并以CSV格式输出测量结果。OLS4500有以下分析功能。截面形状分析(曲率测量、夹角测量)粗糙度分析形态分析(面积、表面积、体积、高度、柱状值、承载比)评价高度测量(指定线、指定面积)粒子分析(选项功能)跟从向导画面的指示, 可轻松操作的6种SPM测量模式接触模式控制微悬臂与样品之间作用的排斥力为恒定的同时, 使微悬臂进行静态扫描, 在影像中呈现样品的高度。还可以进行弯曲测量。 金属薄膜动态模式使微悬臂在共振频率附近振动, 并控制Z方向的距离使振幅恒定, 从而在影像中呈现样品高度。特别适用于高分子化合物之类表面柔软的样品及有粘性的样品。铝合金表面相位模式在动态模式的扫描中, 检测出微悬臂振动的相位延迟。可以在影像中呈现样品表面的物性差。高分子薄膜电流模式对样品施加偏置电压,检测出微悬臂与样品之间的电流并输出影像。此外,还可以进行I/V测量。              Si电路板上的SiO2图案样品。高度影像(左)中显示为黄色的部分是SiO2。在电流影像(右)中显示为蓝色(电流不经过的部分)。通过上图,可以明确电路板中也存在电流不经过的部分。表面电位模式(KFM)使用导电性微悬臂并施加交流电压, 检测出微悬臂与样品表面之间作用的静电, 从而在影像中呈现样品表面的电位。也称作KFM(Kelvin Force Microscope)。                 磁带样品。在电位影像中可以看出数百mV的电位差分布于磁带表面。这些电位差的分布,可以认为是磁带表面的润滑膜分布不均匀。磁力模式(MFM)在相位模式中使用磁化后的微悬臂进行扫描, 检测出振动的微悬臂的相位延迟, 从而在影像中呈现样品表面的磁力信息。也称作MFM(Magnetic Force Microscope)。 硬盘表面样品。可以观察到磁力信息。装配了激光扫描显微镜,灵活应对多种样品轻松检测85°尖锐角采用了有着高N.A. 的专用物镜和专用光学系统(能最大限度发挥405 nm 激光性能),LEXT OLS4500 可以精确地测量一直以来无法测量的有尖锐角的样品。LEXT 专用物镜有尖锐角的样品(剃刀)高度分辨率10 nm,轻松测量微小轮廓由于采用405 nm的短波长激光和更高数值孔径的物镜, OLS4500达到了0.12 μm的平面分辨率。因此, 可以对样品的表面进行亚微米的测量。结合高精度的光栅读取能力和奥林巴斯独有的亮度检测技术, OLS4500可以分辨出亚微米到数百微米范围内的高度差。此外, 激光显微镜测量还保证了测量仪器的两大指标——“正确性”(测量值与真正值的接近程度)和“重复性”(多次测量值的偏差程度)的性能。                  0.12μm行间距高度差标准类型B, PTB-5, Institut fürMikroelektronik, Germany, 6 nm高度测量中的检测从大范围拼接影像中指定目标区域高倍率影像容易使视场范围变小,而通过设置,OLS4500的拼接功能最多可以拼接625幅影像,从而能够获得高分辨率的大范围视图数据。不仅如此,还可以在该大范围视图上进行3D显示或3D测量。可用于传统的线粗糙度测量,也可用于信息量较多的面粗糙度测量                              近年来, 工业产品越来越趋于小型化和轻量化, 所以构成产品的各种部件也越来越精细化。随着这些部件的精细化, 除了形状测量以外, 表面粗糙度测量的重要性也日益提高。为了应对这些市场需求, ISO规定的立体表面结构测量仪器中, 添加了激光显微镜和AFM(ISO 25178-6)。因此, 与传统的接触式表面粗糙度测量相同, 非接触式表面粗糙度测量也被认定为公认评价标准。OLS4500中配置了符合ISO规定的粗糙度参数。在面粗糙度测量中详细掌握粗糙度的分布和特点在非接触式表面粗糙度测量中, 除了线粗糙度还可以测量面粗糙度。在面粗糙度测量中可以掌握样品表面上指定区域内粗糙度分布和特点, 并能够与3D影像对照评价。OLS4500可以根据不同样品和使用目的, 分别使用激光显微镜功能或探针显微镜功能测量表面粗糙度。激光显微镜的面粗糙度测量(105μm×105μm)焊盘 探针显微镜的面粗糙度测量(10μm×10μm)OLS4500的粗糙度参数参数兼容性OLS4500具有与接触式表面粗糙度测量仪相同的表面轮廓参数,因此具有相互兼容的操作性和测量结果。截面曲线Pp, Pv, Pz, Pc, Pt, Pa, Pq, Psk, Pku, Psm, PΔq, Pmr(c), Pδc, Pmr粗糙度曲线Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rsm, RΔq, Rmr(c),Rδc, Rmr, RZJIS, Ra75波动曲线Wp, Wv, Wz, Wc, Wt, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wsm, WΔq, Wmr(c), Wδc, Wmr负荷曲线Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2基本图形R, Rx, AR, W, Wx, AW, Wte粗糙度 (JIS1994)Ra(JIS1994), Ry, Rz(JIS1994), Sm, S, tp其他R3z, P3z, PeakCount适应下一代参数OLS4500具有符合ISO25178的粗糙度(3D)参数。通过评估平面区域,可以进行高可靠性的分析。振幅参数Sq, Ssk, Sku, Sp, Sv, Sz, Sa功能参数Smr(c), Sdc(mr), Sk, Spk, Svk, SMr1, SMr2, Sxp体积参数Vv(p), Vvv, Vvc, Vm(p), Vmp, Vmc横向参数Sal, StrOLS4500的显微镜技术光学显微镜的原理和特长                             明视场观察可以获取颜色信息。纸张上的墨点光学显微镜是从样品上方照射可见光(波长约400 nm到800 nm), 利用其反射光成像, 能够放大样品数十倍到一千倍左右进行观察。光学显微镜的特长是可以真实观察彩色样品, 还可以切换观察方法, 强调样品表面的凹凸, 利用物质的特性(偏光性)进行观察。OLS4500上可以使用下述观察方法。明视场观察       最基本的观察方法,通过样品的反射光成像进行观察微分干涉观察      给样品表面的微小凹凸添加明暗对比,使之变为可视的立体影像简易偏振光观察      照射偏振光(有着特定振动方向的光线),把样品的偏光性变为可视影像激光显微镜的原理和特长可进行亚微米级观察和测量的激光显微镜(LSM:Laser Scanning Microscope)                             激光显微镜的高精度XY扫描(示例)                              光学显微镜的平面分辨率很大程度上取决于所用光的光子和波长,采用短波长的激光扫描显微镜(LSM)比采用可见光的传统显微镜,拥有更高的平面分辨率。LEXT OLS4500采用405 nm的短波长半导体激光、高数值孔径的专用物镜、以及独特的共焦光学系统,可以达到0.12 μm的平面分辨率。此外,OLS4500配有奥林巴斯独有的扫描加扫描型2D扫描仪,可以实现高达4096×4096像素的高精度XY扫描。                             高度测量(微透镜)                                          激光显微镜采用短波长半导体激光和独有的双共焦光学系统, 会删除未聚焦区域的信号, 只将聚焦范围内的反射光检测为同一高度。同时结合高精度的光栅读取能力, 可以生成高画质的影像, 实现精确的3D测量。 探针显微镜的原理和特长可以观察纳米级微观世界的探针显微镜(SPM:Scanning Probe Microscope)                             探针显微镜的原理                                          探针显微镜(SPM)是通过机械式地用探针在样品表面移动,检测出探针与样品之间产生的力、电的相互作用,同时进行扫描,从而得到样品影像。探针尖端曲率半径为10 nm左右。典型的探针显微镜是原子力显微镜(AFM),它通过检测探针和样品表面之间作用的引力和张力进行扫描并获得影像。探针显微镜能够观察纳米级微观形貌,可以捕捉到样品最精细的一面。通过微悬臂扫描进行纳米观察                             SPM传感器光路图                                          OLS4500上采用了光杠杆法——通过高灵敏度检测出最前端装有探针的微悬臂的微小弯曲量(位移)来进行观测的方法。在悬臂的背面反射激光,并用压电元件驱动Z轴,使激光照射到光电检测器的指定位置,从而正确读取Z方向的微小位移。多种观察模式在影像中呈现表面形状和物性                             高分子薄膜                                         探针显微镜拥有多种观察模式,可以观察、测量样品表面的形状,还可以进行物性分析。OLS4500配有以下模式。接触模式: 在影像中呈现表面形状(较硬的表面)动态模式: 在影像中呈现表面形状(较软的表面、有粘性的表面)相位模式: 在影像中呈现样品表面的物性差电流模式*: 检测出探针和样品之间的电流并输出影像表面电位模式(KFM)*: 在影像中呈现样品表面的电位磁力模式(MFM)*: 在影像中呈现样品表面的磁性信息* 该模式为选项功能。决定高精细度、高质量影像的微悬臂探针位于长度约100μm~200μm的薄片状微悬臂的前端。您可以根据样品选择不同的弹簧常数、共振频率。反复扫描会磨损探针, 所以请根据需要定期更换微悬臂探针。技术规格:主机 规格LSM部分光源、检出系统光源:405 nm半导体激光、检出系统:光电倍增管总倍率108~17,280X变焦光学变焦:1~8X测量平面测量重复性100x : 3σn-1=0.02μm、50x:3σn-1=0.04μm、20x:3σn-1=0.1μm正确性测量值的±2%以内高度测量方式物镜转换器上下驱动方式行程10mm内置比例尺0.8nm移动分辨率10nm显示分辨率1nm重复性100x :σn-1= 0.012μm、50x:σn-1=0.012μm、20x:σn-1=0.04μm正确性0.2+L/100 μm以下(L=测量长度)彩色观察部分光源、检出系统光源:白色LED、检出系统:1/1.8英寸200万像素单片CCD变焦码变焦:1~8X物镜转换器6孔电动物镜转换器微分干涉单元微分干涉滑片:U-DICR、内置偏振光片单元物镜明视场平面半消色差透镜5X LEXT专用平面复消色差透镜20X、50X、100XZ对焦部分行程76 mmXY载物台100 x 100 mm(电动载物台)SPM部分运行模式接触模式、动态模式、相位模式、电流模式*、表面电位模式(KFM)*、磁力模式(MFM)*位移检出系统光杠杆法光源659 nm半导体激光检出设备光电检测器最大扫描范围X-Y:最大 30 μm x 30 μm、Z:最大 4.6 μm安装微悬臂在盒式微悬臂支架上一键安装。使用微悬臂安装位置调整专用工装夹具预对位,更换支架时无需光学调整。系统总重量约440 kg(不包含电脑桌)I额定输入100-120 V/220-240 V、600 VA、50/60 Hz

ChemTron MBL3200 专业型双目镜显微镜

ChemTron MBL3200 专业型双目镜显微镜

ChemTron MBL2000 双目镜系列显微镜

ChemTron MBL2000 双目镜系列显微镜

  • 品牌: 德国ChemTron
  • 型号: MBL2000
  • 产地:德国
  • ChemTron MBL2000 双目镜系列显微镜光学单元:10×目镜物镜: 4×/NA 0.1040×/NA 0.65 10×/NA 0.25 100×/NA 1.25油,照明:6V/20W可调阿贝聚光镜 ,特点:30W照明

大尺寸测量显微镜STM6-LM

大尺寸测量显微镜STM6-LM

  • 品牌: 日本奥林巴斯
  • 型号: STM6-LM
  • 产地:日本
  • 产品简介 奥林巴斯大尺寸测量显微镜STM6-LM搭载了大型载物台,对应大型样品的型号。它搭载了250 mm×150 mm规格的载物台和电动调焦机构,能高速、高精度的测量大型样品,所有的X轴和Y轴移动都有离合控制,只需简单移动一个手柄即可迅速实现粗动和微动之间的切换。在X/Y轴和X/Y平面的自由运动使超大型试样能够得到快速和精确的检测。并可在镜台上同时实现对多个试样的测量。 充分利用空间的电气系统一体型机体 着重考虑了仪器的空间利用性和操作方便性,在机体内组装了电气系统,实现了计数器一体型机体。此外,在机体上内置了RS232C数据通信接口,向电脑传送数据和连接打印机等外部设备变得更加容易。不仅如此,还可以使用表计算软件,将电脑读取的数据存到数据库。 带离合器的大型载物台,能够快速进行大范围检查 搭载了250 mm×150 mm大测量范围的载物台。X、Y轴的驱动装置采用了离合器控制机构,只使用一个控制杆就能快速切换粗调和微调。载物台的随意伸缩,实现了大型样品的快速检查。另外,还可以在载物台上放置多个样品连续测量。 历经时间考验的高度刚性机体和载物台 对测量仪器来说精度是最重要的,为了长时间维持仪器的精度不变,奥林巴斯开发出了坚固、不变形的高度刚性机体和载物台。在导轨上采用了能得到高直度的线性引导机构,还内置了独创的光栅尺,确保了仪器精度的可靠性。 光栅尺实现了亚微米级的分辨率 光栅尺的精度直接影响测量显微镜的精度。奥林巴斯采用独创的高精度光栅尺读取系统将光学信息转化为电信息来准确测量。此外,奥林巴斯还根据阿贝定理(需要测量的长度和标尺,在其测量方向上并排成一条直线时,误差最小)确定标尺的内置位置,最大程度的减少了误差。 快速完成Z轴测量的电动调焦机构 采用了电动调焦机构,大幅度提高了调焦和测量高度、深度时的操作性能。使用Z控制器可以轻松切换粗调和4个级别的微调(800、400、200、50 μm),在很大程度上减轻了工作疲劳。 配置在易于观察位置上的计数器 计数器与显微镜机体一体化,它的显示器部分与观察员的视线几乎等高,易于观察。稍微移动视线就可以确认测量值,便于集中精神观察样品、调节样品位置。 提高边缘检测能力、外观检查能力的UIS2光学系统和LED照明 采用了有着高分辨率和高对比度的UIS2光学系统,以及能忠实的再现样品色彩、色调不受照明亮度影响的LED照明。这种设计大幅度提高了边缘的可见性和测量能力、外观检查能力。此外,LED照明不会出现灯光闪烁不定和亮度变化,能减轻长时间工作时的眼部疲劳。 考虑了人眼分辨能力的米字线,使位置调节变得简单 在测量显微镜中如何正确的对准测量物体和米字线是很重要的。直线校准时,与使用一根直线相比,使用米字线和虚线能得出更为正确的结果。奥林巴斯分析了人眼的这种特性和人眼的分辨能力,在焦面板上加入米字线和虚线,提高了对准的精度。 易于追加的高精度自动调焦系统 搭载了单次对焦和跟踪对焦两种模式。需要谨慎而细密的操作才能完成的目视测量高度和深度,通过灵活运用操作模式可以实现自动化。这样,不仅消除了因个人差异产生的偏差,还能够手不离开XY手柄完成观察,大幅度提高了Z轴测量的效率。 搭载了多种功能的运算装置 无需对样品和载物台进行平行校准,将样品放入载物台后能立即开始测量。只要输入点数据就能进行2维运算处理,并在显示器上显示测量中的校准项目和测量项目的说明。测量结果由内置打印机输出。 此外,可以将获得的测量数据传送到电脑,使用表计算软件加工数据。 国际标准的溯源体系 为了实现高精度的产品质量,从制造到装配的每一个阶段,奥林巴斯都配备了日本国内一流的生产环境。在管理严格的恒温工厂中,技能娴熟的员工精密加工仔细挑选的原材料,精心打造每一件产品。此外,从零部件到成品,所有的生产步骤都实行了严格的溯源体系管理。 产品规格 光学系统 UIS2光学系统(无限远校正) 机身 观察方法 明视场/暗视场/微分干涉/简易偏振光 反射/透射 反射/透射 照明系统 10 WLED白色照明(反射照明用),10 WLED绿色照明(投射用) 对焦单元 电动/手动 电动 行程 205 mm 粗调速度 4.8 mm/sec 微调速度(可选) 800 μm/400 μm/200 μm/50 μm (旋钮旋转一周) 四个级别 最大样本高度 205 mm(金相物镜),150 mm(测量物镜) Z轴测量范围 205 mm(金相物镜),150 mm(测量物镜) 物镜 测量物镜/金属物镜 镜筒 正像单目观察筒,正像三目观察筒(100:0/ 0:100 ) 载物台 行程 250(X)×150(Y)mm 测量精度 X轴:(3+5L/250)μm,Y轴:(3+3L/150)μm[L:测量长度(mm)] 计数器 最小读数分辨率 0.1 μm/0.5 μm(可选) 选件 运算装置/自动调焦/辅助对焦 外形尺寸 684(W)×579(D)×843(H)mm 重量 170 kg(标准组合)

半导体/FPD检查显微镜

半导体/FPD检查显微镜

  • 品牌: 日本奥林巴斯
  • 型号: MX61A/MX51
  • 产地:日本
  • 产品简介半导体/FPD检查显微镜MX61A是一款专门设计的半导体显微镜,可操作人员以正确的人体工程学姿势进行操作,有利于操作人员在长时间的工作中顺利进行检测。采用了新颖的光学系统(UIS2),特别增强了明视场、暗视场的性能,从而提高了辨别和确认缺陷的能力。MX61L / MX61, 300 mm/200 mm半导体检查显微镜通过各种观察方法 - 明视场法、暗视场法、微分干涉法(DIC)、荧光法、红外线法和深紫外线法,保证了卓越的图像分辨率和鲜明度。MX51工业检查显微镜是一款高性价比的显微镜,适用于各种电子元件、晶圆和大型样本的观察需求。MX51主要操作部件集中在前面,操作人员易于操作,即使长时间操作也不会感到疲劳。专用150mm载物台内置离合器,可实现轻松移动。MX-IR/BX-IR是像透过玻璃似的可透视红外线显微镜。适用于封装芯片、晶圆级CSP/SIP的非破坏检查。使用近红外线显微镜,可以在不破坏封装的前提下,透过硅观察IC芯片内部。对必需用FIB(Focused Ion Beam)处理位置的指定也有效。AL120-12晶圆搬送机对应可使用FOUP(装载口)和FOSB,适用于低成本的后期检查。安全且符合人体工程学的设计确保了操作人员在搬送晶圆时(包括薄晶圆和变形晶圆)的效率和安全。AL120晶圆搬送机可对应200mm以下晶圆尺寸的硅、化合物晶圆,可以安全高效搬送薄片晶圆,非常适合于前道到后道工程的晶圆检查。 ?体视显微镜SZX16通用显微镜是根据检测应用的需求设计的,0.7x - 11.5x,变倍比可达16.4倍,分辨率可达900 LP/mm。能够满足广泛的研究需求。SZX10是可再现样品自然颜色和形貌的应用领域较为广泛的高级系统体视显微镜。宽范围的变倍比(10倍),工作距离81mm,开口数0.1(采用1倍物镜时)。可提供高光学性能和舒适的操作环境。SZX7体视显微镜,价格适中、操作简便、观察舒适,并配有7:1变焦率功能和内置防静电保护装置,采用了先进的伽利略光学系统,可生成优异的高画质图像。SZ51和SZ61显微镜配有内置防静电保护装置,可生成具有优异景深、清晰、细致、颜色逼真的图像。其可靠、高性能的光学部件是保证精确观测结果的核心。 测量显微镜STM6-LM显微镜拥有亚微米级的精度,实现了优异的通用性,可对各种零部件和电子元件进行高性能的三轴测量。低倍率选项使之成为精密工具制造者的理想选择。STM6显微镜拥有亚微米级的精度,实现了优异的通用性,可对各种零部件和电子元件进行高性能的二轴或三轴测量。低倍率选项使之成为精密工具制造者的理想选择。

精巧型视频测量系统 Swift PRO Cam

精巧型视频测量系统 Swift PRO Cam

  • 品牌: 英国VISION
  • 型号: Swift PRO Cam
  • 产地:英国
  • 二维与三坐标高精度视频测量系统 非常适合测量小巧复杂零件 2D 特征 200mm x 100mm 精密测量台 放大倍率高达 100 倍 内置高清摄像头 视频边缘检测 (VED) 实现快速精准测量 操作非常简单,减少培训需要 轮廓投影仪或其他视频测量系统的理想升级替代之选

欧米特工具镭射盲孔残胶漏铜测量显微镜MT-300

欧米特工具镭射盲孔残胶漏铜测量显微镜MT-300

  • 品牌: 苏州欧米特
  • 型号: MT-300
  • 产地:苏州
  • 欧米特工具镭射盲孔残胶漏铜测量显微镜MT-300 创新图像处理技术,获得更精细的动态图像,测量数据直接发送至Aout CAD中, 测量数据及时传输到Word/Excel,以便实时分析,强大的元素测量功能。 ■ 全新的光路设计无限远校正光学系统,光效率更高,采用长寿命LED光源, 提供出色的图像质量。

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