韦德国际1946手机版

仪器网

欢迎您: 请登录 免费注册 仪器双拼网址:yiqi.com
官方微信
中国仪器网

工具显微镜/测量显微镜

赛默飞化学分析仪器
仪器网/ 韦德国际1946手机版/ 光学仪器/ 光学显微镜/ 工具显微镜/测量显微镜
工具显微镜/测量显微镜

工具显微镜/测量显微镜概述

工具显微镜/测量显微镜是一种以光学(显微镜)瞄准和坐标(工作台)测量为基础的机械式光学仪器,可用于测量各种长度和角度,用于平面乃至三维数据的测量。特别适合于测量各种复杂的工具和零件,如螺纹、凸轮的轮廓、切削刀具和孔间距等。工具显微镜/测量显微镜主要分为:小型工具显微镜、大型工具显微镜、万能工具显微镜和重型万能工具显微镜等。
现货批发日本三丰工具显微镜TM-505(176-816DC),TM-510(176-817DC))

现货批发日本三丰工具显微镜TM-505(176-816DC),TM-510(176-817DC))

品牌:日本三丰
型号:TM-505(176-816DC),TM-510(176-817DC))
数显大型工具显微镜JX-6D

数显大型工具显微镜JX-6D

品牌:上海蒲柘光电
型号:JX-6D
三坐标测量机HK-ACM-F688

三坐标测量机HK-ACM-F688

品牌:北京哈科
型号:HK-ACM-F688
精巧型视频测量系统 Swift PRO Cam

精巧型视频测量系统 Swift PRO Cam

品牌:英国VISION
型号:Swift PRO Cam
光学与视频双测量系统 Swift Pro Duo

光学与视频双测量系统 Swift Pro Duo

品牌:微视
型号:Swift Pro Duo
工具显微镜/测量显微镜查询条件
产品品牌
收起品牌
产品产地
不限 中国大陆 大洋洲欧洲亚洲美洲
厂商性质
不限 生产商授权代理商一般经销商
销售地区
江苏山东上海北京安徽浙江福建广东广西海南湖北河南江西天津河北山西宁夏西藏青海陕西四川云南贵州甘肃辽宁吉林黑龙江内蒙古香港台湾澳门湖南重庆新疆
不限
展开更多选项

工具显微镜/测量显微镜产品文章

工具显微镜/测量显微镜产品列表
排列样式:
  • >
19JC-1上海长方数字式万能工具显微镜

19JC-1上海长方数字式万能工具显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: 19JC-1
  • 产地:上海
  • 19JC-1 数字式万能工具显微镜以直观的数字显示和数字打印方式取代了普通万工显的目视读数方式,以影像法和轴切法按直角坐标与极坐标精确地测量各种零件,是机械加工韦德国际1946手机版、电子制造业、计量测试所广泛使用的多用途计量仪器。 数字式万能工具显微镜典型测量对象有: 测量各种成型零件如样板、样板车刀、样板铣刀、冲模和凸轮的形状。 测量外螺纹(螺纹塞规、丝杆和蜗杆等)的中径、大径、小径、螺距、牙型角。

107J-1上海长方测量显微镜

107J-1上海长方测量显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: 107J-1
  • 产地:上海
  • 107J-1 普通型测量显微镜:采用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量。特别适用于电子行业,机械精加工。用来测量电子线路的宽度和精细小工件的几何尺寸,以及其它精密零件测。广泛地适用于计量室,生产作业线以及科学研究等部门。

15JE-1上海长方数显测量显微镜

15JE-1上海长方数显测量显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: 15JE-1
  • 产地:上海
  • 15JE-1 数显型测量显微镜是光学计量仪器之一种,它的结构简单,操作方便,适用范围极广,主要用途如下: 1.直角座标中测定长度,例如测定孔距,基面距离,刻线距离,刻线宽度,键槽宽度,狭缝宽度,通孔圆直径等。 2.转动度盘测定角度,例如对刻度盘,样板、量规,钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。 3.数显型测量显微镜可用作观察显微镜,以比较检查工作表面光洁度,鉴定冶金工业的矿石标本。

15JA-1上海长方测量显微镜

15JA-1上海长方测量显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: 15JA-1
  • 产地:上海
  • 15JA-1 测量显微镜是光学计量仪器之一,它结构简单、操作方便,适用范围极广,主要用途如下 1.直角座标中测定长度,例如测定孔距,基面距离,刻线距离,刻线宽度,键槽宽度,狭缝宽度,通孔圆直径 2.转动度盘测定角度,例如对刻度盘,样板、量规,钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。 3.测量显微镜可用作观察显微镜,以比较检查工作表面光洁度,鉴定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版,检验纺织

15J-1上海长方测量显微镜

15J-1上海长方测量显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: 15J-1
  • 产地:上海
  • 15J-1 普通型测量显微镜是光学计量仪器之一种,它的结构简单,操作方便,适用范围极广,主要用途如下: 1.直角座标中测定长度,例如测定孔距,基面距离,刻线距离,刻线宽度,键槽宽度,狭缝宽度,通孔圆直径等等。 2.转动度盘测定角度,例如对刻度盘,样板、量规,钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。 3.测量显微镜用作观察显微镜,以比较检查工作表面光洁度,鉴定冶金工业的矿石标本。

107JPC-1上海长方增强型测量显微镜

107JPC-1上海长方增强型测量显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: 107JPC-1
  • 产地:上海
  • 107JPC-1 增强型测量显微镜:采用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量。特别适用于电子行业,机械精加工。用来测量电子线路的宽度和精细小工件的几何尺寸,以及其它精密零件测。增强型测量显微镜广泛地适用于计量室,生产作业线以及科学研究等部门。

107JC-1上海长方电脑型测量显微镜

107JC-1上海长方电脑型测量显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: 107JC-1
  • 产地:上海
  • 107JC-1 电脑型测量显微镜:采用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量。特别适用于电子行业,机械精加工。用来测量电子线路的宽度和精细小工件的几何尺寸,以及其它精密零件测量。电脑型测量显微镜广泛地适用于计量室,生产作业线以及科学研究等部门。

107JA-1上海长方数显测量显微镜

107JA-1上海长方数显测量显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: 107JA-1
  • 产地:上海
  • 107JA-1 数显型测量显微镜:采用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量。特别适用于电子行业,机械精加工。用来测量电子线路的宽度和精细小工件的几何尺寸,以及其它精密零件测量。数显测量显微镜广泛地适用于计量室,生产作业线以及科学研究等部门。

15JC-1上海长方电脑型测量显微镜

15JC-1上海长方电脑型测量显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: 15JC-1
  • 产地:上海
  • 15JC-1 电脑型测量显微镜是光学计量仪器之一种,它的结构简单,操作方便,适用范围极广,主要用途如下: 1.直角座标中测定长度,例如测定孔距,基面距离,刻线距离,刻线宽度,键槽宽度,通孔圆直径等 2.转动度盘测定角度,例如对刻度盘,样板、量规,钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。 3.用作观察显微镜,以比较检查工作表面光洁度,鉴定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版,检验纺织纤维

JXB-CA上海长方电脑型读数显微镜

JXB-CA上海长方电脑型读数显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: JXB-CA
  • 产地:上海
  • JXB-CA 电脑型读数显微镜是光学计量仪器之一,它的结构简单,操作方便,应用范围很广, 其主要用途如下: 1、作长度测定。如定孔距。基面距离刻线距离、刻线宽度以及通孔外圆的直径等。

JXB-DA上海长方读数显微镜

JXB-DA上海长方读数显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: JXB-DA
  • 产地:上海
  • JXB-DA 读数显微镜是光学计量仪器之一,结构简单,操作方便,应用范围很广, 其主要用途如下: 1、读数显微镜可作长度测定。如定孔距。基面距离刻线距离、刻线宽度以及通孔外圆的直径等。 2、读数显微镜能扩大一般显微镜使用范围,可在不同方向上测量。 3、读数显微镜可作观察显微镜,可判别矿石标本,检查印刷照像底板。由于测量架能脱 开底座,可固定在机床上直接对加工零件进行检查。

WL-N上海长方便携读数显微镜

WL-N上海长方便携读数显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: WL-N
  • 产地:上海
  • 便携式读数显微镜 WL-20、WL-40、WL-50、WL-100能广泛应用于工厂生产现场的检验测量和实验室的观察研究,尤其适用于电子、机械制造业,纸张制造业,印刷业,纺织业等的生产现场检查。该产品体积小,重量轻,造型新颖,操作简便,也可供学生实验使用。

JC4-10B上海长方手持读数显微镜

JC4-10B上海长方手持读数显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: JC4-10B
  • 产地:上海
  • 手持型读数显微镜结构简单、使用方便。可作测定孔距、刻线宽度、刻线距离、键槽宽度、狭缝凹痕、宽度、长度、金属表面质量、纤维、织物密度、野外标本等。 手持型读数显微镜尤其适合测量布氏、洛氏及维氏硬度试验压痕尺寸。

JC-10B上海长方读数显微镜

JC-10B上海长方读数显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: JC-10B
  • 产地:上海
  • 便携式读数显微镜结构简单、使用方便。可作测定孔距、刻线宽度、刻线距离、键槽宽度、狭缝凹痕、宽度、长度、金属表面质量、纤维、织物密度、野外标本等。 便携式读数显微镜尤其适合测量布氏、洛氏及维氏硬度试验压痕尺寸。

JC4-10A上海长方读数显微镜

JC4-10A上海长方读数显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: JC4-10A
  • 产地:上海
  • 手持型读数显微镜结构简单、使用方便。可作测定孔距、刻线宽度、刻线距离、键槽宽度、狭缝凹痕、宽度、长度、金属表面质量、纤维、织物密度、野外标本等。 手持型读数显微镜尤其适合测量布氏、洛氏及维氏硬度试验压痕尺寸。

JC-10A上海长方读数显微镜

JC-10A上海长方读数显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: JC-10A
  • 产地:上海
  • 便携式读数显微镜结构简单、使用方便。可作测定孔距、刻线宽度、刻线距离、键槽宽度、狭缝凹痕、宽度、长度、金属表面质量、纤维、织物密度、野外标本等。 便携式读数显微镜尤其适合测量布氏、洛氏及维氏硬度试验压痕尺寸。

IME-2上海长方数显工具显微镜

IME-2上海长方数显工具显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: IME-2
  • 产地:上海
  • IME-2数显型工具显微镜能方便地读取数显表头示值,测量工件的孔径、孔距等尺寸以及角度、使用任选的目镜组还能检验螺纹以及齿轮形状等。数显型工具显微镜设计非常紧凑、重量轻、最适合设置在加工现场受到限制的场所。

JGX-1A上海长方工具显微镜

JGX-1A上海长方工具显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: JGX-1A
  • 产地:上海
  • 小型工具显微镜JGX-1A是应用非常广泛的精密光学计量仪器之一。测量范围广、精确可靠、操作方便,因而特别适用于精密机械制造与工具制造工业。小型工具显微镜主要使用范围如下: 1.测定形状样板,样板刀等按照直角座标进行测定。 2.测定螺纹;螺纹的中径、外径、内径的测定,测定螺距,螺形角,螺形角对螺纹轴的轮廓位置和螺纹形状 3.测定角度:测定螺纹梳形车刀,螺纹铣刀的螺形角

IMPC-1电脑型工具显微镜

IMPC-1电脑型工具显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: IMPC-1
  • 产地:上海
  • IMPC-1 电脑型工具显微镜能方便地读取测微表头示值,配有高精度的工作平台,日本进口摄像器。可以直接在计算机屏幕上瞄准,无须人眼瞄准,减小人为误差。测量工件的孔径、孔距等尺寸以及角度、使用任选的目镜组还能检验螺纹以及齿轮形状等。电脑型工具显微镜设计非常紧凑、重量轻、最适合设置在加工现场受到限制的场所。 是一种理想的多用途的小型精密测量仪器。

IMC-1上海长方影像工具显微镜

IMC-1上海长方影像工具显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: IMC-1
  • 产地:上海
  • IMC-1 影像型工具显微镜能方便地读取测微表头示值,配有高精度的工作平台,日本进口摄像器。可以直接在计算机屏幕上瞄准,无须人眼瞄准,减小人为误差。测量工件的孔径、孔距等尺寸以及角度、使用任选的目镜组还能检验螺纹以及齿轮形状等。影像工具显微镜设计非常紧凑、重量轻、最适合设置在加工现场受到限制的场所。 是一种理想的多用途的小型精密测量仪器。

IME-1上海长方数显工具显微镜

IME-1上海长方数显工具显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: IME-1
  • 产地:上海
  • IME-1 数显型工具显微镜能方便地读取数显表头示值,测量工件的孔径、孔距等尺寸以及角度、使用任选的目镜组还能检验螺纹以及齿轮形状等。数显型工具显微镜设计非常紧凑、重量轻、最适合设置在加工现场受到限制的场所。

JGX-2A上海长方大型工具显微镜

JGX-2A上海长方大型工具显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: JGX-2A
  • 产地:上海
  • JGX-2A 型大型工具显微镜是一种最基础的精密光学测量仪器。备有多种附件,从而使测量项目有所增加。并配备不同的放大倍率,以便对微小工件也能作精确的测定。大型工具显微镜为机器制造工厂、科学研究机关及高等院校的计量部门广泛使用的一种多性能计量仪器。作为工具制造厂产品鉴定的基本工具,也适用于其它精密机械制造厂,科学研究单位及学校等,供生产或科学研究之用。

JX14AC上海长方大型数显工具显微镜

JX14AC上海长方大型数显工具显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: JX14AC
  • 产地:上海
  • JX14AC 数显型工具显微镜在机器制造厂、科学研究机关及高等院校的计量部门或车间检查站广泛就应用。数显型工具显微镜采用光栅尺作为长度测量传感器,长度值采用数字显示,具有较高的测量精度和操作效率。

JGX-2EA上海长方大型数显工具显微镜

JGX-2EA上海长方大型数显工具显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: JGX-2EA
  • 产地:上海
  • JGX-2EA 数显型工具显微镜是一种最基础的精密光学测量仪器.仪器备有多种附件,从而使测量项目有所增加。并配备不同的放大倍率,以便对微小工件也能作精确的测定. 大型工具显微镜为机器制造工厂、科学研究机关及高等院校的计量部门广泛使用的一种多性能计量仪器。作为工具制造厂产品鉴定的基本工具,也适用于其它精密机械制造厂,科学研究单位及学校等,供生产或科学研究之用。

19JPC-1上海长方万能工具显微镜

19JPC-1上海长方万能工具显微镜

  • 品牌: 上海长方
  • 型号: 19JPC-1
  • 产地:上海
  • 19JPC-1 电脑型万能工具显微镜,是应用计算机辅助测量的新一代万能工具显微镜,能解决各种复杂的二维测量问题。传统的万工显对于视场中不能直接观测到的几何元素,如园心、中点.交点.中心线及其相互距离。夹角等等都很难进行测量,而在19JPC 仪器上均能迎刃而解。电脑型万能工具显微镜采用精密光栅传感器和PC系列微机以及数据接口卡采集测量数据,同时以19JPC二维测量程序进行数据处理、显示并打印测量结果

LEXT OLS4500纳米检测显微镜

LEXT OLS4500纳米检测显微镜

  • 品牌: 日本奥林巴斯
  • 型号: LEXT OLS4500
  • 产地:日本
  • LEXT OLS4500纳米检测显微镜为您带来最新的解决方案实现纳米级观测的新型显微镜。不会丢失锁定的目标。(电动物镜转换器切换倍率和观察方法)有涵盖了低倍观察到高倍观察的4种物镜,并在电动物镜转换器上装配了SPM单元。可以无缝切换倍率和观察方法,不会丢失观察对象。此外,该款显微镜可以进行纳米级观测。涵盖了低倍到高倍观察,并配有多种观察方法可以迅速发现观察对象。可以完成低倍到高倍的大范围倍率观察。不仅如此,先进光学技术打造的光学显微镜带来多种观察方法,可以容易的发现观察对象。此外,对于光学显微镜难以找到的观察对象,还可以使用激光显微镜进行观察。在激光微分干涉(DIC) 观察中,可以进行纳米级微小凹凸的实时观察。明视场观察(IC元件)                        微分干涉(DIC)观察                         激光微分干涉(DIC)观察缩短从放置样品到获取影像的工作时间。放置好样品后,所有的操作都在1台装置上完成。可以迅速,正确的把观察对象移到SPM显微镜下面,所以只要扫描1次就能获取所需的SPM影像。一体机的机型,所以无需重新放置样品只要在1台装置上切换倍率、观察方法就能够灵活应对新样品。OLS4500是把光学显微镜、激光显微镜、探针显微镜融于一体的一体机,所以无需重新放置样品,即可自由切换3种显微镜进行观察和评价。这3种显微镜各自持有优异的性能,所以能够高效输出最佳结果。 OLS4500实现了无缝观察和测量【发现】可以迅速发现观察对象使用光学显微镜的多种观察方法, 迅速找到观察对象OLS4500采用了白色LED光源, 可以观察到颜色逼真的高分辨率彩色影像。它装有4种物镜, 涵盖了低倍到高倍的大范围观察。OLS4500充分发挥了光学观察的特长, 除了最常使用的明视场观察(BF)以外, 还可以使用对微小的凹凸添加明暗对比, 达到视觉立体效果的微分干涉观察(DIC), 以及用颜色表现样品偏光性的简易偏振光观察。此外, OLS4500上还配有HDR功能(高动态范围功能), 该功能使用不同的曝光时间拍摄多张影像后进行合成, 来显示亮度平衡更好、强调了纹理的影像。在OLS4500上您可以使用多种观察方法迅速找到观察对象。 BF 明视场最常使用的观察方法。在观察中真实再现样品的颜色。适用于观察有明暗对比的样品。DIC 微分干涉对于在明视场观察中看不到的样品的微小高低差,添加明暗对比使之变为立体可视。适用于观察金相组织、硬盘和晶圆抛光表面之类镜面上的伤痕或异物等。简易偏振光照射偏振光(有着特定振动方向的光线),使样品的偏光性变为肉眼可视。适用于观察金相组织、矿物、半导体材料等。HDR 高动态范围使用不同曝光时间拍摄多张影像并进行影像合成,可以观察平衡度较好的明亮部分和阴暗部分。此外,还可以强调纹理(表面状态),进行更精细的观察。 使用激光显微镜,可以观察到光学显微镜中难以观察到的样品影像OLS4500采用了短波长405 nm的激光光源和高N.A.的专用物镜, 实现了优异的平面分辨率。能以鲜明的影像呈现出光学显微镜中无法看到的观察对象。在激光微分干涉(DIC)模式中还可以实时观察纳米级的微小凹凸。  明视场观察(玻璃板上的异物)          激光微分干涉观察【接近】迅速发现观察对象,在SPM上正确完成观察实现了无缝观察,不会丢失观察对象OLS4500在电动物镜转换器上装配了涵盖低倍到高倍观察的4种物镜, 以及小型SPM单元。在光学显微镜或激光显微镜的50倍、100倍的实时观察中, 由于SPM扫描范围一直显示于视场中心, 所以把观察目标点对准该位置后, 只要切换到探针显微镜, 就能够正确接近观察对象。因此, 只需1次SPM扫描就能获取目标影像, 从而能够提高工作效率并降低微悬臂的损耗。不会在SPM观察中迷失的、可切换式向导功能使用探针显微镜开始观察之前, 可以在向导画面上设置所需的条件, 如安装微悬臂、扫描范围等。所以经验较少的操作者也能安心完成操作。【纳米级测量】简单操作,可以迅速获得测量结果新开发的小型SPM测头, 减少了影像瑕疵新开发的小型SPM测头OLS4500采用了装在电动物镜转换器上的物镜型SPM测头。同轴、共焦配置了物镜和微悬臂前端,所以切换SPM观察时不会丢失观察目标点。不仅如此,新开发的小型SPM测头提高了刚性,所以与传统产品相比,减少了影像瑕疵并提高了可追踪性。使用向导功能,自由放大SPM影像使用向导功能, 可以观察时进一步放大探针显微镜拍到的影像的所需部分倍率。只要在影像上用鼠标指针设置放大范围并扫描, 就可以获取所需的SPM影像。可以自由设置扫描范围, 所以大幅度提高了观察和测量的效率。向导功能在10μm×10μm影像上放大3.5μm×3.5μm范围优异的分析功能, 应对各种测量目的曲率测量(硬盘的伤痕)OLS4500能够根据您的测量目的分析在各种测量模式中获取的影像,并以CSV格式输出测量结果。OLS4500有以下分析功能。截面形状分析(曲率测量、夹角测量)粗糙度分析形态分析(面积、表面积、体积、高度、柱状值、承载比)评价高度测量(指定线、指定面积)粒子分析(选项功能)跟从向导画面的指示, 可轻松操作的6种SPM测量模式接触模式控制微悬臂与样品之间作用的排斥力为恒定的同时, 使微悬臂进行静态扫描, 在影像中呈现样品的高度。还可以进行弯曲测量。 金属薄膜动态模式使微悬臂在共振频率附近振动, 并控制Z方向的距离使振幅恒定, 从而在影像中呈现样品高度。特别适用于高分子化合物之类表面柔软的样品及有粘性的样品。铝合金表面相位模式在动态模式的扫描中, 检测出微悬臂振动的相位延迟。可以在影像中呈现样品表面的物性差。高分子薄膜电流模式对样品施加偏置电压,检测出微悬臂与样品之间的电流并输出影像。此外,还可以进行I/V测量。              Si电路板上的SiO2图案样品。高度影像(左)中显示为黄色的部分是SiO2。在电流影像(右)中显示为蓝色(电流不经过的部分)。通过上图,可以明确电路板中也存在电流不经过的部分。表面电位模式(KFM)使用导电性微悬臂并施加交流电压, 检测出微悬臂与样品表面之间作用的静电, 从而在影像中呈现样品表面的电位。也称作KFM(Kelvin Force Microscope)。                 磁带样品。在电位影像中可以看出数百mV的电位差分布于磁带表面。这些电位差的分布,可以认为是磁带表面的润滑膜分布不均匀。磁力模式(MFM)在相位模式中使用磁化后的微悬臂进行扫描, 检测出振动的微悬臂的相位延迟, 从而在影像中呈现样品表面的磁力信息。也称作MFM(Magnetic Force Microscope)。 硬盘表面样品。可以观察到磁力信息。装配了激光扫描显微镜,灵活应对多种样品轻松检测85°尖锐角采用了有着高N.A. 的专用物镜和专用光学系统(能最大限度发挥405 nm 激光性能),LEXT OLS4500 可以精确地测量一直以来无法测量的有尖锐角的样品。LEXT 专用物镜有尖锐角的样品(剃刀)高度分辨率10 nm,轻松测量微小轮廓由于采用405 nm的短波长激光和更高数值孔径的物镜, OLS4500达到了0.12 μm的平面分辨率。因此, 可以对样品的表面进行亚微米的测量。结合高精度的光栅读取能力和奥林巴斯独有的亮度检测技术, OLS4500可以分辨出亚微米到数百微米范围内的高度差。此外, 激光显微镜测量还保证了测量仪器的两大指标——“正确性”(测量值与真正值的接近程度)和“重复性”(多次测量值的偏差程度)的性能。                  0.12μm行间距高度差标准类型B, PTB-5, Institut fürMikroelektronik, Germany, 6 nm高度测量中的检测从大范围拼接影像中指定目标区域高倍率影像容易使视场范围变小,而通过设置,OLS4500的拼接功能最多可以拼接625幅影像,从而能够获得高分辨率的大范围视图数据。不仅如此,还可以在该大范围视图上进行3D显示或3D测量。可用于传统的线粗糙度测量,也可用于信息量较多的面粗糙度测量                              近年来, 工业产品越来越趋于小型化和轻量化, 所以构成产品的各种部件也越来越精细化。随着这些部件的精细化, 除了形状测量以外, 表面粗糙度测量的重要性也日益提高。为了应对这些市场需求, ISO规定的立体表面结构测量仪器中, 添加了激光显微镜和AFM(ISO 25178-6)。因此, 与传统的接触式表面粗糙度测量相同, 非接触式表面粗糙度测量也被认定为公认评价标准。OLS4500中配置了符合ISO规定的粗糙度参数。在面粗糙度测量中详细掌握粗糙度的分布和特点在非接触式表面粗糙度测量中, 除了线粗糙度还可以测量面粗糙度。在面粗糙度测量中可以掌握样品表面上指定区域内粗糙度分布和特点, 并能够与3D影像对照评价。OLS4500可以根据不同样品和使用目的, 分别使用激光显微镜功能或探针显微镜功能测量表面粗糙度。激光显微镜的面粗糙度测量(105μm×105μm)焊盘 探针显微镜的面粗糙度测量(10μm×10μm)OLS4500的粗糙度参数参数兼容性OLS4500具有与接触式表面粗糙度测量仪相同的表面轮廓参数,因此具有相互兼容的操作性和测量结果。截面曲线Pp, Pv, Pz, Pc, Pt, Pa, Pq, Psk, Pku, Psm, PΔq, Pmr(c), Pδc, Pmr粗糙度曲线Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rsm, RΔq, Rmr(c),Rδc, Rmr, RZJIS, Ra75波动曲线Wp, Wv, Wz, Wc, Wt, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wsm, WΔq, Wmr(c), Wδc, Wmr负荷曲线Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2基本图形R, Rx, AR, W, Wx, AW, Wte粗糙度 (JIS1994)Ra(JIS1994), Ry, Rz(JIS1994), Sm, S, tp其他R3z, P3z, PeakCount适应下一代参数OLS4500具有符合ISO25178的粗糙度(3D)参数。通过评估平面区域,可以进行高可靠性的分析。振幅参数Sq, Ssk, Sku, Sp, Sv, Sz, Sa功能参数Smr(c), Sdc(mr), Sk, Spk, Svk, SMr1, SMr2, Sxp体积参数Vv(p), Vvv, Vvc, Vm(p), Vmp, Vmc横向参数Sal, StrOLS4500的显微镜技术光学显微镜的原理和特长                             明视场观察可以获取颜色信息。纸张上的墨点光学显微镜是从样品上方照射可见光(波长约400 nm到800 nm), 利用其反射光成像, 能够放大样品数十倍到一千倍左右进行观察。光学显微镜的特长是可以真实观察彩色样品, 还可以切换观察方法, 强调样品表面的凹凸, 利用物质的特性(偏光性)进行观察。OLS4500上可以使用下述观察方法。明视场观察       最基本的观察方法,通过样品的反射光成像进行观察微分干涉观察      给样品表面的微小凹凸添加明暗对比,使之变为可视的立体影像简易偏振光观察      照射偏振光(有着特定振动方向的光线),把样品的偏光性变为可视影像激光显微镜的原理和特长可进行亚微米级观察和测量的激光显微镜(LSM:Laser Scanning Microscope)                             激光显微镜的高精度XY扫描(示例)                              光学显微镜的平面分辨率很大程度上取决于所用光的光子和波长,采用短波长的激光扫描显微镜(LSM)比采用可见光的传统显微镜,拥有更高的平面分辨率。LEXT OLS4500采用405 nm的短波长半导体激光、高数值孔径的专用物镜、以及独特的共焦光学系统,可以达到0.12 μm的平面分辨率。此外,OLS4500配有奥林巴斯独有的扫描加扫描型2D扫描仪,可以实现高达4096×4096像素的高精度XY扫描。                             高度测量(微透镜)                                          激光显微镜采用短波长半导体激光和独有的双共焦光学系统, 会删除未聚焦区域的信号, 只将聚焦范围内的反射光检测为同一高度。同时结合高精度的光栅读取能力, 可以生成高画质的影像, 实现精确的3D测量。 探针显微镜的原理和特长可以观察纳米级微观世界的探针显微镜(SPM:Scanning Probe Microscope)                             探针显微镜的原理                                          探针显微镜(SPM)是通过机械式地用探针在样品表面移动,检测出探针与样品之间产生的力、电的相互作用,同时进行扫描,从而得到样品影像。探针尖端曲率半径为10 nm左右。典型的探针显微镜是原子力显微镜(AFM),它通过检测探针和样品表面之间作用的引力和张力进行扫描并获得影像。探针显微镜能够观察纳米级微观形貌,可以捕捉到样品最精细的一面。通过微悬臂扫描进行纳米观察                             SPM传感器光路图                                          OLS4500上采用了光杠杆法——通过高灵敏度检测出最前端装有探针的微悬臂的微小弯曲量(位移)来进行观测的方法。在悬臂的背面反射激光,并用压电元件驱动Z轴,使激光照射到光电检测器的指定位置,从而正确读取Z方向的微小位移。多种观察模式在影像中呈现表面形状和物性                             高分子薄膜                                         探针显微镜拥有多种观察模式,可以观察、测量样品表面的形状,还可以进行物性分析。OLS4500配有以下模式。接触模式: 在影像中呈现表面形状(较硬的表面)动态模式: 在影像中呈现表面形状(较软的表面、有粘性的表面)相位模式: 在影像中呈现样品表面的物性差电流模式*: 检测出探针和样品之间的电流并输出影像表面电位模式(KFM)*: 在影像中呈现样品表面的电位磁力模式(MFM)*: 在影像中呈现样品表面的磁性信息* 该模式为选项功能。决定高精细度、高质量影像的微悬臂探针位于长度约100μm~200μm的薄片状微悬臂的前端。您可以根据样品选择不同的弹簧常数、共振频率。反复扫描会磨损探针, 所以请根据需要定期更换微悬臂探针。技术规格:主机 规格LSM部分光源、检出系统光源:405 nm半导体激光、检出系统:光电倍增管总倍率108~17,280X变焦光学变焦:1~8X测量平面测量重复性100x : 3σn-1=0.02μm、50x:3σn-1=0.04μm、20x:3σn-1=0.1μm正确性测量值的±2%以内高度测量方式物镜转换器上下驱动方式行程10mm内置比例尺0.8nm移动分辨率10nm显示分辨率1nm重复性100x :σn-1= 0.012μm、50x:σn-1=0.012μm、20x:σn-1=0.04μm正确性0.2+L/100 μm以下(L=测量长度)彩色观察部分光源、检出系统光源:白色LED、检出系统:1/1.8英寸200万像素单片CCD变焦码变焦:1~8X物镜转换器6孔电动物镜转换器微分干涉单元微分干涉滑片:U-DICR、内置偏振光片单元物镜明视场平面半消色差透镜5X LEXT专用平面复消色差透镜20X、50X、100XZ对焦部分行程76 mmXY载物台100 x 100 mm(电动载物台)SPM部分运行模式接触模式、动态模式、相位模式、电流模式*、表面电位模式(KFM)*、磁力模式(MFM)*位移检出系统光杠杆法光源659 nm半导体激光检出设备光电检测器最大扫描范围X-Y:最大 30 μm x 30 μm、Z:最大 4.6 μm安装微悬臂在盒式微悬臂支架上一键安装。使用微悬臂安装位置调整专用工装夹具预对位,更换支架时无需光学调整。系统总重量约440 kg(不包含电脑桌)I额定输入100-120 V/220-240 V、600 VA、50/60 Hz

大尺寸测量显微镜STM6-LM

大尺寸测量显微镜STM6-LM

  • 品牌: 日本奥林巴斯
  • 型号: STM6-LM
  • 产地:日本
  • 产品简介 奥林巴斯大尺寸测量显微镜STM6-LM搭载了大型载物台,对应大型样品的型号。它搭载了250 mm×150 mm规格的载物台和电动调焦机构,能高速、高精度的测量大型样品,所有的X轴和Y轴移动都有离合控制,只需简单移动一个手柄即可迅速实现粗动和微动之间的切换。在X/Y轴和X/Y平面的自由运动使超大型试样能够得到快速和精确的检测。并可在镜台上同时实现对多个试样的测量。 充分利用空间的电气系统一体型机体 着重考虑了仪器的空间利用性和操作方便性,在机体内组装了电气系统,实现了计数器一体型机体。此外,在机体上内置了RS232C数据通信接口,向电脑传送数据和连接打印机等外部设备变得更加容易。不仅如此,还可以使用表计算软件,将电脑读取的数据存到数据库。 带离合器的大型载物台,能够快速进行大范围检查 搭载了250 mm×150 mm大测量范围的载物台。X、Y轴的驱动装置采用了离合器控制机构,只使用一个控制杆就能快速切换粗调和微调。载物台的随意伸缩,实现了大型样品的快速检查。另外,还可以在载物台上放置多个样品连续测量。 历经时间考验的高度刚性机体和载物台 对测量仪器来说精度是最重要的,为了长时间维持仪器的精度不变,奥林巴斯开发出了坚固、不变形的高度刚性机体和载物台。在导轨上采用了能得到高直度的线性引导机构,还内置了独创的光栅尺,确保了仪器精度的可靠性。 光栅尺实现了亚微米级的分辨率 光栅尺的精度直接影响测量显微镜的精度。奥林巴斯采用独创的高精度光栅尺读取系统将光学信息转化为电信息来准确测量。此外,奥林巴斯还根据阿贝定理(需要测量的长度和标尺,在其测量方向上并排成一条直线时,误差最小)确定标尺的内置位置,最大程度的减少了误差。 快速完成Z轴测量的电动调焦机构 采用了电动调焦机构,大幅度提高了调焦和测量高度、深度时的操作性能。使用Z控制器可以轻松切换粗调和4个级别的微调(800、400、200、50 μm),在很大程度上减轻了工作疲劳。 配置在易于观察位置上的计数器 计数器与显微镜机体一体化,它的显示器部分与观察员的视线几乎等高,易于观察。稍微移动视线就可以确认测量值,便于集中精神观察样品、调节样品位置。 提高边缘检测能力、外观检查能力的UIS2光学系统和LED照明 采用了有着高分辨率和高对比度的UIS2光学系统,以及能忠实的再现样品色彩、色调不受照明亮度影响的LED照明。这种设计大幅度提高了边缘的可见性和测量能力、外观检查能力。此外,LED照明不会出现灯光闪烁不定和亮度变化,能减轻长时间工作时的眼部疲劳。 考虑了人眼分辨能力的米字线,使位置调节变得简单 在测量显微镜中如何正确的对准测量物体和米字线是很重要的。直线校准时,与使用一根直线相比,使用米字线和虚线能得出更为正确的结果。奥林巴斯分析了人眼的这种特性和人眼的分辨能力,在焦面板上加入米字线和虚线,提高了对准的精度。 易于追加的高精度自动调焦系统 搭载了单次对焦和跟踪对焦两种模式。需要谨慎而细密的操作才能完成的目视测量高度和深度,通过灵活运用操作模式可以实现自动化。这样,不仅消除了因个人差异产生的偏差,还能够手不离开XY手柄完成观察,大幅度提高了Z轴测量的效率。 搭载了多种功能的运算装置 无需对样品和载物台进行平行校准,将样品放入载物台后能立即开始测量。只要输入点数据就能进行2维运算处理,并在显示器上显示测量中的校准项目和测量项目的说明。测量结果由内置打印机输出。 此外,可以将获得的测量数据传送到电脑,使用表计算软件加工数据。 国际标准的溯源体系 为了实现高精度的产品质量,从制造到装配的每一个阶段,奥林巴斯都配备了日本国内一流的生产环境。在管理严格的恒温工厂中,技能娴熟的员工精密加工仔细挑选的原材料,精心打造每一件产品。此外,从零部件到成品,所有的生产步骤都实行了严格的溯源体系管理。 产品规格 光学系统 UIS2光学系统(无限远校正) 机身 观察方法 明视场/暗视场/微分干涉/简易偏振光 反射/透射 反射/透射 照明系统 10 WLED白色照明(反射照明用),10 WLED绿色照明(投射用) 对焦单元 电动/手动 电动 行程 205 mm 粗调速度 4.8 mm/sec 微调速度(可选) 800 μm/400 μm/200 μm/50 μm (旋钮旋转一周) 四个级别 最大样本高度 205 mm(金相物镜),150 mm(测量物镜) Z轴测量范围 205 mm(金相物镜),150 mm(测量物镜) 物镜 测量物镜/金属物镜 镜筒 正像单目观察筒,正像三目观察筒(100:0/ 0:100 ) 载物台 行程 250(X)×150(Y)mm 测量精度 X轴:(3+5L/250)μm,Y轴:(3+3L/150)μm[L:测量长度(mm)] 计数器 最小读数分辨率 0.1 μm/0.5 μm(可选) 选件 运算装置/自动调焦/辅助对焦 外形尺寸 684(W)×579(D)×843(H)mm 重量 170 kg(标准组合)

LEXT OLS5000 3D测量激光显微镜

LEXT OLS5000 3D测量激光显微镜

  • 品牌: 日本奥林巴斯
  • 型号: LEXT OLS5000
  • 产地:日本
  • LEXT OLS5000 3D测量激光显微镜配备的两套光学系统(彩色成像光学系统和激光共焦光学系统)让其能够获取彩色信息、高度信息和高分辨率图像。LEXT OLS5000 3D测量激光显微镜有4大关键价值:捕捉任意表面形状。快速获得可靠数据。使用简单 - 只需放置样品并按一下按钮即可。测量具有挑战性的样品。价值1:捕捉任意表面形状。 OLS5000显微镜的先进技术使其能够进行高分辨率的3D样品测量。价值2、快速获得可靠数据该显微镜的扫描算法既可提高数据质量又可提高速度,从而缩短您的扫描时间,简化您的工作流程,最终实现生产力的提升。价值3、使用简单,只需放置样品并按一下按钮即可LEXT? OLS5000显微镜具有自动数据采集功能,因而无需进行复杂的设置调整。 甚至生疏的用户也可以获得准确的检测结果。价值4、可测量具有挑战性的样品低输出、非接触式无损激光测量意味着不需要样品制备。可以在不损坏易损性材料的情况下对其进行测量。扩展架可容纳高达210毫米的样品,而超长工作距离物镜能够测量深度可达25毫米的凹坑。在测量这两类样品时,您只需将样品放在载物台上即可。[获取彩色信息]彩色成像光学系统使用利用白光LED光源和CMOS相机获取彩色信息。[获取3D 高度信息和高分辨率共焦图像]激光共焦光学系统采用405纳米激光二极管光源和高灵敏度光电倍增管获得共焦图像。浅焦深使其能够用于测量样品的表面不规则性。[405纳米激光光源]光学显微镜的横向分辨率随着波长的减小而获得提升。采用短波长激光的激光显微镜相比采用可见光(峰值550纳米)的传统显微镜具有更优的横向分辨率。 OLS5000显微镜利用405纳米短波长激光二极管获得卓越的横向分辨率。[激光共焦光学系统]激光共焦光学系统仅接收通过圆形针孔聚焦的光线,并非采集从样品上反射和散射的所有光线。这样有助于消除模糊,让其能够获得比普通显微镜对比度更高的图像[X-Y扫描仪]OLS5000显微镜配有奥林巴斯光学扫描仪。通过将采用电磁感应MEMS谐振扫描仪的X轴与采用Galvano扫描振镜的Y轴相结合,能够让X-Y扫描仪定位于相对物镜瞳镜共轭的位置,因而能够实现具有较低扫描轨迹失真和较小光学像差的卓越X-Y扫描。[高度测量原理]在测量高度时,显微镜通过自动移动焦点位置获取多个共焦图像。根据非连续的焦点位置(Z)和检测光强度(I)可以估算每个像素的光强变化曲线(I-Z曲线),并获得其峰值位置和峰值强度。由于所有像素的峰值位置与样品表面的不规则性相对应,因此可以获得样品表面的3D形状信息。与此类似,通过峰值强度数据可以获得针对样品表面所有位置焦点的图像(扩展图像)。主机规格:型号OLS5000-SAFOLS5000-SMFOLS5000-LAFOLS5000-EAFOLS5000-EMF总倍率54x - 17,280x视场直径16 μm - 5,120 μm测量原理光学系统反射式共焦激光扫描激光显微镜反射式共焦激光扫描激光-DIC 显微镜彩色彩色DIC光接收元件激光:光电倍增管(2ch)色彩:CMOS 彩色相机高度测量显示分辨率0.5 纳米动态范围16 位可重复性 n-1 *1 *2 *620x : 0.03 μm, 50x : 0.012 μm, 100x : 0.012 μm精度 *1 *3 *6测量值 +/- 1.5%拼接图像精度 *1 *4 *620x : 15+0.5L μm, 50x : 9+0.5L μm, 100x : 7+0.5L μm (L: 拼接长度 [μm])测量噪声(SQ 噪声)*1 *5 *61 纳米宽度测量显示分辨率1 纳米可重复性 3 n-1 *1 *620x : 0.05 μm, 50x : 0.04 μm, 100x : 0.02 μm精度 *1 *3 *6测量值 +/- 1.5%拼接图像精度 *1 *3 *620x : 15+0.5L μm, 50x : 9+0.5L μm, 100x : 7+0.5L μm (L: 拼接长度 [μm])单次测量时测量点的最大数量4096 x 4096 像素测量点的最大数量3600 万像素XY 载物台配置长度测量模块?无无?无工作范围100 x 100 mm 电动100 x 100 mm 手动300 x 300 mm 电动100 x 100 mm 电动100 x 100 mm 手动最大样品高度100 mm30 mm30 mm210 mm140 mm激光光源波长405 nm最大输出0.95 mW激光分类2 类 (IEC60825-1:2007, IEC60825-1:2014)彩色光源白光 LED电气功率240 W240 W278 W240 W240 W质量显微镜主体约 31 公斤约 30 公斤约 50 公斤约 43 公斤约 39 公斤控制器约 12 公斤

STM7奥林巴斯测量显微镜

STM7奥林巴斯测量显微镜

  • 品牌: 日本奥林巴斯
  • 型号: STM7
  • 产地:日本
  • 通过整合光学显微镜和先进的测量能力实现精确测量多年的显微镜开发经验成就了优异的观察性能STM7奥林巴斯测量显微镜系列采用了当前最先进光学显微镜中所使用的UIS2无限远校正光学系统。因此,观察到的图像具有高分辨率和高对比度,此外,像差也被完全消除,以确保实现对微小细节的高精度测量。明场图像暗场图像微分干涉图像偏光图像花岗岩精雕细琢而成的载物台基座增强了测量的可靠性STM7-LFFEM分析为了进一步保证测量精度,STM7测量显微镜系列采用了一个配备花岗岩基座的高度耐用和防振动的镜架。由于花岗岩的高稳定性,使测量可到达亚微米水平,同时确保最大程度地降低误差。作为高度测量的先锋,继续提供简单易操作的高精度3轴测量共聚焦自动对焦系统光路随着现代制造技术日益小型化和精密化,高精度测量也日趋重要——不仅是XY轴平面的测量,而且Z轴方向的高精度测量也成为必须。奥林巴斯成为首家成功开发了测量显微镜用采用主动反射、共聚焦方法的自动聚焦系统的公司,以此响应了这种与日俱增的需求。严格的可追溯系统确保品质可靠奥林巴斯通过一个严格的可追溯系统控制测量显微镜的精确度。并且在安装系统时奥林巴斯也提供了可追溯的校准服务。测量显微镜跟踪系统STM7测量显微镜设计注重易用性提供载物台以适合眼下的样本大小[常见问题] ? 短测量行程无法满足较大样品的测量需求。? 目前为止,大型载物台在X轴方向提供了足够的测量行程,但是Y轴的行程仍然较小。在测量过程中需要通过旋转样品来补偿比X轴覆盖范围要短的Y轴行程,这样的做法费事费时,效率不高。? 由于可测量的范围窄,无法将数量较多的样品排列在载物台上,以实现一次性同时测量。[STM7解决方案]    共有四种独特的正方形测量行程的载物台可供选用,分别为:50 mm×50 mm、100 mm×100 mm、200 mm×200 mm和300 mm×300 mm。不管是大的样品还是小的样品,总有一款载物台会适合您要测量的样品。? 采用离合器系统可以在粗调和微调之间实现快速切换。具备了这种切换功能之后,载物台也可以沿着X轴和Y轴方向迅速移动,并且可以在XY平面上自由穿梭。? 300 mm长的方形载物台在X轴和Y轴方向上可以提供相同的测量行程,这意味着可以不旋转样品就实现大型样品的全部测量,比如300 mm的晶圆和印刷电路板。STM7-CS5050mm x 50mmSTM7-CS100100mm x 100mmSTM7-CS200200 mm x 200 mmSTM7-CS300300 mm x 300 mm使用相同的显微镜进行低倍率和高倍率观察[常见问题]大部分传统的测量显微镜只可以专用测量物镜或专用金相物镜,无法同时满足多种观察要求。[STM7解决方案]STM7测量显微镜可以通过安装一个测量物镜适配器使用测量物镜,而更换为物镜转盘后,便可使用金相物镜。这意味着, STM7将金相光学系统和测量光学系统同时结合在一台测量显微镜中。通过这种方式,无论是测量大型样品还是精细样品,或是表面高度差异大的样品,STM7系列都可以对应并协助用户选择最佳的观察方法。测量物镜由于测量物镜具有非常长的工作距离,因此可以在对表面起伏较大的样品进行聚焦的时候,无需担心物镜与样品之间发生接触。此外,借助测量物镜的低倍率能力,可以一次观察到较大的视场。金相物镜可以得到和光学显微镜相媲美的高倍率和高分辨率观察能力。更重要的是,在明场观察之外还可以对应暗场,偏光和微分干涉观察。明场图像暗场图像手动和电动调焦模式的选择STM7测量显微镜系列包括手动调焦和电动调焦两个系列对于Z轴的上下调焦,有手动型和电动型两种系列供您选择。请根据样品和测量内容选择符合您需求的机型,而不需要考虑载物台的尺寸。所有的镜架均内置Z轴线性标尺,各种型号STM7都可以对应3轴测量。手动Z轴调焦机型手动Z轴调焦机型提供了卓越的成本效益——通过操作被广泛使用的调焦旋钮,可以快速的上下移动Z轴。为测量具有各种高度样品的用户提供了方便。电动Z轴调焦机型使用电动调焦装置可以大幅提高操作性,并减少了进行聚焦和高度测量时的操作疲劳。粗微调焦的同轴旋钮设计使使用者可以以习惯的类似手动的方式进行操作,同时电动机型还可以配备自动聚焦单元。一个具有突破性设计的控制单元大幅提升了测量显微镜的操作性[常见问题]? 增加功能时需要添置额外的操作单元。操作者需要同时操作多个单元而导致无法高效率地进行测量。操作时也经常会发生找不到操作单元的情况。? 增加功能时需要添置额外的操作单元。操作者需要同时操作多个单元而导致无法高效率地进行测量。操作时也经常会发生找不到操作单元的情况。[STM7解决方案]控制装置对于STM7测量显微镜系列,只要使用单一的操作装置能够执行几乎所有的测量显微镜操作,包括重置计数器、照明控制、调焦和自动聚焦等功能。为了提高效率和方便性,您可以将装置放在任何想要放置的位置,并可以轻松地单手操作。用于手动Z轴调焦机型:STM7-HS手动操作装置用于电动Z轴调焦机型:STM7-MCZ电动操作装置控制箱各个单元的电源和通信均被集成在一个单一的控制箱中。即使是添加一些可选功能比如聚焦导航功能也不需要增加额外的电源装置,这样的设计可以最大程度地减少占用工作空间。大大提高了观察和测量效率的光源管理器[常见问题]? 传统测量显微镜使用的模拟旋钮调节方式不能实现光强的定量控制。这样每次测量时的光强无法保持一致,导致测量值也发生变化。? 使用传统测量显微镜时,每次切换物镜后都需要调节光强,这使得工作流程非常低效。[STM7解决方案]能够定量掌握光源亮度的数字式显示 STM7测量显微镜能够实现光强的定量数字化显示,保证了能在始终一致的照明条件下实施观察。物镜切换时,无需手动调节光强光强度管理器可以与编码物镜转盘配置配套使用。带编码物镜转盘会自动识别目前使用的物镜,结合光源管理器的预设值功能,可以为每个物镜注册照明方式和光强。这样每当切换物镜后,可以自动调节光强和调整照明方式。象以前每次切换倍率后手动调节光强的操作,现在就可以省略了。5倍强度5020X强度70100X强度120可以放置在任意方便使用地方的可拆卸计数器,确保能随时迅速地检查测量结果和设备状态。[常见问题] 需要检查诸如照明状态等设备运行状以及测量结果时,因为是在不同单元上显示使操作变得非常繁琐。[STM7解决方案]能一目了然确认当前状态的计数器计数器带有显示设备状态和设置的指示灯,可以简单的实现对设备当前设定状态的确认。X、Y和Z轴的最小单位可以在0.1 μm和1 μm之间切换,此外,还可以在毫米、微米、英寸和密耳之间切换显示单位。可满足个性化需求自由放置的可拆卸式计数器无论是安装在镜架上还是放置在工作台上,可拆卸式计数器都可以根据用户的使用状况和使用习惯放置在最佳位置。当用户站着进行测量时,可以将计数器安装在和观察位置大致相同高度的镜架一侧,以方便轻松的观察和检查结果。当用户通过数码相机在显示器上进行观察和测量,或使用电动Z轴调焦机型时,只需将计数器和操作装置放在工作台上即可轻松地坐在椅子上进行作业。计数器安装在镜架上计数器放置在工作台上高度测量:聚焦导航系统实现更快、更简单、更精确的高度测量[[常见问题]进行目视测量时,不同的操作者会测得不同的高度测量值。此外,这种测量方法非常耗时,效率低下。[STM7解决方案]具有优越的重复性、简单且高度精确的聚焦系统通过将图案投影在视场范围内,由操作者确认上下图案的重合情况,奥林巴斯的聚焦导航系统实现了重复性高的高度测量操作。普通的目测观察进行高度测量时,即使是看上去非常清晰的已经完全合焦的图像,也会出现微小误差。而使用STM7的聚焦导航系统,只需匹配标记便可进行测量,因此减少了操作者的主观性对测量结果造成的影响。目视高度测量聚焦导航系统焦点下方焦点位置焦点上方自动聚焦的优势成就快速、高精度的高度测量[常见问题]? 进行目视测量时,不同的操作者得出的高度测量结果也会不一样。? 手动高度测量需要操作者反复进行移动载物台,使用旋钮调焦的操作,这使测量既耗时又低效。? 很难对微小的物体聚焦,比如引线。[STM7解决方案]快速、精准的聚焦和不受操作者主观影响的测量奥林巴斯开发了STM7系列专用的自动聚焦单元,该单元在实现快速聚焦的同时,保障了卓越的对焦重复性。因此,无论操作者的经验如何,均可以在很短的时间内实现高度精确的高度测量。无论操作者的经验如何,使用STM7专用自动对焦单元均可以在最短时间内实现高度精确的高度测量。即使是粗糙或倾斜的样品表面,利用主动反射、共聚焦方法都可以实现稳定对焦,而小直径的激光,也能保证对微小物体,比如引线的自动对焦。单次对焦模式执行自动聚焦后,可瞬间完成从大致的聚焦状态转为视场中心的清晰对焦。跟踪模式启用具有特色的追踪模式后会随样品表面的高低起伏自动对焦,即使在移动工作台的情况下,也可以始终保持合焦状态。这使得操作者在手不需要离开X和Y手柄的情况下也能实施观察,从而极大地提高了Z轴的测量效率。拓宽了测量观察范围的配件编码物镜转换器将编码物镜转盘与数码照相机配套使用可以在观察过程中在屏幕上显示物镜的放大倍率,以方便您记录倍率。同时切换倍率时也能与软件中记录的校准值和光强连动调整设置。有明场物镜和明暗场物镜两种供您选择。MM6-EMO正像单目镜筒正立图像用单目镜筒。可与MM6-OCC10×(带十字线的目镜)配套使用。STM7-FS脚踏开关实现了不需要用手进行数据传输,使操作者可以在手不离开X和Y手柄的情况下完成测量。SZ-LW61白光LED照明装置具有小型,轻便,使用寿命长,功耗低等特点。此外,这款高性价比的LED照明单元也不会发生闪烁和亮度波动。SZX2-ILR66+ SZX-RHS LED环形照明+手动控制装置SZX-RHS手动控制单元可以实现SZX2-ILR66反射LED环形照明装置的四段独立照明,并提供具有较高色温的清晰图像。可以从13种模式中选择最佳的照明。旋转载物台使用微调旋钮可以轻松实现对样品的平行对齐。STM7-RS100STM7-CS100 100mm×100mm载物台STM7-RS200STM7-CS200 200mm×200mm载物台STM7-RS300STM7-CS300 300mm×300mm载物台测量支持系统即使对复杂形状也能实现更快、更简单、更精确的测量对于显示测量显微镜输出的数据和图像来说,看的越清楚也就能更方便更快捷地使用和测量。为了支持高精度、高复杂性的测量,奥林巴斯测量软件可以和数码照相机结合使用。技术规格小型手动镜架STM7-SF小型电动镜架STM7-SFA中型手动镜架STM7-MF中型电动镜架STM7-MAF大型手动镜架STM7-LF大型镜架STM7-LFA显微镜镜架聚焦垂直移动范围175 mm145 mm最大的测量高度120 mm(配备测量物镜)175 mm(配备金相物镜)90 mm(配备测量物镜)145 mm*1(配备金相物镜)Z轴测量分辨率0.1 μmZ轴驱动方法手动同轴微调/粗调焦旋钮电马达驱动:●聚焦按钮:移动速度8 mm/s(最大)●微/粗调焦旋钮:微调焦速度(旋转一周移动量)有4档可供选择(800 μm,400μm,100 μm,50 μm)手动同轴微调/粗调焦旋钮电马达驱动:●聚焦按钮:移动速度8 mm/s(最大)●微/粗调焦旋钮:微调焦速度(旋转一周移动量)有4档可供选择(800 μm,400μm,100 μm,50 μm)手动同轴微调/粗调焦旋钮电马达驱动:●聚焦按钮:移动速度8 mm/s(最大)●微/粗调焦旋钮:微调焦速度(旋转一周移动量)有4档可供选择(800 μm,400μm,100 μm,50 μm)照明LED照明白色:用于反射光照明,绿色:用于透射光照明镜筒正像单目镜筒,正像三目镜筒(100:0/0:100)物镜测量显微镜用MM6-OB系列金相显微镜用MPLFLN 系列, LMPLFLN 系列, MPLFLN-BD 系列, LMP LFLN-BD 系列目镜  MM6-OCC10X (带十字线, FN 22), MM6-O C10X (FN 22)     载物台测量范围STM7-CS50:X轴 50 mm, Y轴 50 mmSTM7-CS100:X轴 100 mm, Y轴 100 mmSTM7-CS200:X轴 200 mm, Y轴 200 mmSTM7-CS300:X轴 300 mm, Y轴 300 mm测量精确度(L:测量长度)STM7-CS50: (3+L/50) μmSTM7-CS100: (3+2L/100) μm(3+4L/200) μm(3+6L/200) μm精确度保证重量STM7-CS50: 5 kgSTM7-CS100: 6 kg10 kg15 kg计数器显示 轴数3轴单位毫米/微米/英寸/密耳   最小分辨率0.1 μm 外形尺寸(宽×长×高)(mm)466 x 583x651466 x 583 x 811606 x 762 x 651606 x 762 x 811804 x 1024 x 686804 x 1024 x 844重量约84 kg约92 kg约152 kg约159 kg约277 kg约284 kg额定功率100-120/220-240V ~50/60Hz0.3A/0.2A100-120/220-240V ~ 50/60Hz0.6A/0.35A100-120/220-240V ~ 50/60Hz0.3A/0.2A100-120/220-240V ~ 50/60Hz0.6A/0.35A100-120/220-240V ~ 50/60Hz0.3A/0.2A100-120/220-240V ~ 50/60Hz0.6A/0.35A*1 使用大型镜架STM7-LF/STM7-LFA时,可以将高度为100 mm或以下的样品放置在光轴后方180 mm或以上距离的地方。物镜工作距离?                                                  倍率1x3x5x10x20x50x100x物镜测量物镜MM6-OB系列 59.676.865.450.5---金相物镜MPLFLN系列明场--20.011.03.11.01.0LMPLFLN系列长工作距离--22.521.012.010.63.4MPLFLN-BD系列明场/暗场--12.06.53.01.01.0LMPLFLN-BD系列明场/暗场长工作距离--15.010.012.010.63.3

光学和视频双系统测量显微镜 Hawk Duo

光学和视频双系统测量显微镜 Hawk Duo

  • 品牌: 英国VISION
  • 型号: Hawk Duo
  • 产地:英国
  • 适用于要求高质量和灵活性的应用中。Hawk Duo单个系统结合了光学测量和视频测量两种技术,因此,无论您测量什么样的部件,它都是最理想的选择。测量范围可达400mmx300mmDynascope光学显微镜技术能够提供清晰度无与伦比的图像,使测量得以精确、轻松地完成。集成了视频测量,实现终极控制功能和灵活性。英国工业显微镜韦德国际1946手机版将符合人机工学要求的测量显微镜与视频测量系统相结合,创造了Hawk Duo。Hawk Duo能够灵活测量常规和难以观察的部件,因此,无论您测量哪种部件,它都是最理想的选择。Hawk Duo 能够极其精确地重复性测量所有材质的复杂零件,在常规和难以观察的零件的测量方面特别突出,例如黑色或者透明塑料-这是多合一系统!两种测量系统二合一 - 扩展更多功能光学和视频双测量技术使得Hawk Duo成为以下应用情况下的理想之选检测那些边缘容易识别,但是某些特征难以观察的对象,例如:彩色塑料。同时需要常规测量和关键尺寸测量的对象,例如医疗器械。需要批量检测和一次性检测的零部件。系统详细信息* 相关配置。**以10倍微距物镜为基础(100倍系统放大倍率)。其中L=测得的长,单位mm(200倍系统放大倍率,采用受控条件)。

测量显微镜STM6

测量显微镜STM6

  • 品牌: 日本奥林巴斯
  • 型号: STM6
  • 产地:日本
  • 产品简介 奥林巴斯测量显微镜STM6保持了奥林巴斯测量显微镜一贯的特色,具有出色的精度和耐久度。它的结构紧凑,虽然拥有众多的多样化功能,但在同类测量显微镜中体积是最小的。为保证了每一位的使用者的要求都能得到满足,不仅配有电动调焦功能(这是奥林巴斯在世界上最先采用的),极为先进的UIS2无限远光学系统,还提供了有多种扩展配件以供选择。STM6,正是为了执行当今最高要求的测量任务而造! 节省空间,无须选择特殊安放场地 295 mm(W)×429.4 mm(D)规格的紧凑机体不仅凝聚了多种功能,还实现了节省空间的小型化设计。 四种规格载物台,可以按需选用 可以根据用途从四种规格的载物台中选择所需型号。50×50 mm、100×50 mm、100×100 mm三种载物台采用了粗调/细调同轴的旋转手柄;150×100 mm载物台则采用了离合器释放机构,使高速移动和细微的位置调整成为可能。 历经时间考验的高度刚性机体和载物台 对测量仪器来说精度是最重要的,为了长时间维持仪器的精度不变,奥林巴斯开发出了坚固、不变形的高度刚性机体和载物台。在导轨上采用了能得到高直度的线性引导机构,还内置了独创的光栅尺,确保了仪器精度的可靠性。 光栅尺实现了亚微米级的分辨率 光栅尺的精度直接影响测量显微镜的精度。奥林巴斯采用独创的高精度光栅尺读取系统将光学信息转化为电信息来准确测量。此外,奥林巴斯还根据阿贝定理(需要测量的长度和标尺,在其测量方向上并排成一条直线时,误差最小)确定标尺的内置位置,最大程度的减少了误差。 快速完成Z轴测量的电动调焦机构 采用了电动调焦机构,大幅度提高了调焦和测量高度、深度时的操作性能。使用Z控制器可以轻松切换粗调和4个级别的微调(800、400、200、50 μm),在很大程度上减轻了工作疲劳。 配置在易于观察位置上的计数器 计数器与显微镜机体一体化,它的显示器部分与观察员的视线几乎等高,易于观察。稍微移动视线就可以确认测量值,便于集中精神观察样品、调节样品位置。 提高边缘检测能力、外观检查能力的UIS2光学系统和LED照明 采用了有着高分辨率和高对比度的UIS2光学系统,以及能忠实的再现样品色彩、色调不受照明亮度影响的LED照明。这种设计大幅度提高了边缘的可见性和测量能力、外观检查能力。此外,LED照明不会出现灯光闪烁不定和亮度变化,能减轻长时间工作时的眼部疲劳。 考虑了人眼分辨能力的米字线,使位置调节变得简单 在测量显微镜中如何正确的对准测量物体和米字线是很重要的。直线校准时,与使用一根直线相比,使用米字线和虚线能得出更为正确的结果。奥林巴斯分析了人眼的这种特性和人眼的分辨能力,在焦面板上加入米字线和虚线,提高了对准的精度。 易于追加的高精度自动调焦系统 搭载了单次对焦和跟踪对焦两种模式。需要谨慎而细密的操作才能完成的目视测量高度和深度,通过灵活运用操作模式可以实现自动化。这样,不仅消除了因个人差异产生的偏差,还能够手不离开XY手柄完成观察,大幅度提高了Z轴测量的效率。 搭载了多种功能的运算装置 无需对样品和载物台进行平行校准,将样品放入载物台后能立即开始测量。只要输入点数据就能进行2维运算处理,并在显示器上显示测量中的校准项目和测量项目的说明。测量结果由内置打印机输出。 此外,可以将获得的测量数据传送到电脑,使用表计算软件加工数据。 国际标准的溯源体系 为了实现高精度的产品质量,从制造到装配的每一个阶段,奥林巴斯都配备了日本国内一流的生产环境。在管理严格的恒温工厂中,技能娴熟的员工精密加工仔细挑选的原材料,精心打造每一件产品。此外,从零部件到成品,所有的生产步骤都实行了严格的溯源体系管理。 产品规格 光学系统 UIS2光学系(无限远校正) 机身 观察方法 明视场/暗视场/微分干涉/简易偏振光 反射/透射 反射/透射 照明系统 10 WLED白色照明(反射照明用),10 WLED绿色照明(投射用) 对焦单元 电动/手动 手动[手动双轴/三轴型] 电动[电动三轴型] 行程 155 mm 粗调速度 4.8 mm/sec[电动三轴型] 微调速度(可选) 800 μm/400 μm/200 μm/50 μm (旋钮旋转一周) 四个级别[电动三轴型] 最大样本高度 155 mm(金相物镜),100 mm(测量物镜) Z轴测量范围 155 mm(金相物镜),100 mm(测量物镜)[手动三轴型/电动三轴型] 物镜 测量物镜/金属物镜 镜筒 正像单目观察筒,正像三目观察筒(100:0/ 0:100 ) 载物台 行程 50(X)×50(Y)mm 100(X)×50(Y)mm 100(X)×100(Y)mm 150(X)×100(Y)mm 测量精度 50 mm划动:(3+L/50)μm[L:测量长度(mm)] 100 mm划动:(3+2L/100)μm[L:测量长度(mm)] 150 mm划动:(3+3L/150)μm[L:测量长度(mm)] 计数器 最小读数分辨率 0.5 μm[手动双轴型] 0.1/0.5 μm(可选)[手动三轴型] 0.1 μm[电动三轴型] 选件 运算装置/自动调焦/辅助对焦 外形尺寸 465(W)×437(D)×596(H)mm[手动双轴型] 465(W)×437(D)×592(H)mm[手动三轴型] 465(W)×437(D)×696(H)mm[电动三轴型] 重量 94 kg(标准组合)[手动双轴型] 95 kg(标准组合)[手动三轴型] 97 kg(标准组合)[电动三轴型]

哈科精密影像测量仪手动机HK-EVM-G

哈科精密影像测量仪手动机HK-EVM-G

  • 品牌: 北京哈科
  • 型号: HK-EVM-G
  • 产地:北京
  • 本系列是一款高精度影像测量仪,结合传统光学与最新影像技术并配备功能完备的2.5D测量软件。可将以往用肉眼在传统显微镜下观察到的影像传输到电脑中作各种量测,并将测量结果存入电脑中以便日后存档或发送电子邮件。其操作简单、性价比高、精确度高、测量方便、功能齐全、稳定可靠。适用于产品检测、工程开发、品质管理。在机械加工、精密电子、模具制造、塑料橡胶、五金零件等行业都有广泛使用。

全自动精密影像测量仪HK-VMS-4030H

全自动精密影像测量仪HK-VMS-4030H

  • 品牌: 北京哈科
  • 型号: HK-VMS-4030H
  • 产地:北京
  • ? 自主开发QMS3D软件,可满足客户不同测量需求 ? 具有快速自动对焦、自动寻边,强大的编程和自动测量功能 ? 采用亚像素细分技术,提高边界分辨能力 ? 配置操纵手柄,亦可软件程控 ? SPC数据处理分析,大批量治具测量 ? X、Y、Z三轴伺服控制,定位精度高速度快,运行平稳 ? 采用自主开发的嵌入式模块控制系统,将复杂的控制系统集成于仪器内部,稳定性更高 ? 程控恒流驱动式八区表面冷光光源,可适应复杂的工件测量 ? 可通过激光指示器寻找被测工件的具体位置,快速定位,方便快捷

单视场影像测量仪HK-TOMMY-II

单视场影像测量仪HK-TOMMY-II

  • 品牌: 北京哈科
  • 型号: HK-TOMMY-II
  • 产地:北京
  • 产品名称:单式场精密影像测量仪 产品品牌:HK-TOMMY-II 产品简介:经济型精密影像测量仪TOMMY-II系列主要适合测量精密、微小的工件,价格便宜、结构简单,操作方便,在测量行业内得到好评。本仪器在秉承了HL-TOMMY-II优点的基础之上加以改进,使您更加快捷、轻松的完成测量工作。广泛适用于五金机械,冶金模具、汽车航空,电子纺织、科研院校等行业。

ChemTron MBL3200 专业型双目镜显微镜

ChemTron MBL3200 专业型双目镜显微镜

半导体/FPD检查显微镜

半导体/FPD检查显微镜

  • 品牌: 日本奥林巴斯
  • 型号: MX61A/MX51
  • 产地:日本
  • 产品简介半导体/FPD检查显微镜MX61A是一款专门设计的半导体显微镜,可操作人员以正确的人体工程学姿势进行操作,有利于操作人员在长时间的工作中顺利进行检测。采用了新颖的光学系统(UIS2),特别增强了明视场、暗视场的性能,从而提高了辨别和确认缺陷的能力。MX61L / MX61, 300 mm/200 mm半导体检查显微镜通过各种观察方法 - 明视场法、暗视场法、微分干涉法(DIC)、荧光法、红外线法和深紫外线法,保证了卓越的图像分辨率和鲜明度。MX51工业检查显微镜是一款高性价比的显微镜,适用于各种电子元件、晶圆和大型样本的观察需求。MX51主要操作部件集中在前面,操作人员易于操作,即使长时间操作也不会感到疲劳。专用150mm载物台内置离合器,可实现轻松移动。MX-IR/BX-IR是像透过玻璃似的可透视红外线显微镜。适用于封装芯片、晶圆级CSP/SIP的非破坏检查。使用近红外线显微镜,可以在不破坏封装的前提下,透过硅观察IC芯片内部。对必需用FIB(Focused Ion Beam)处理位置的指定也有效。AL120-12晶圆搬送机对应可使用FOUP(装载口)和FOSB,适用于低成本的后期检查。安全且符合人体工程学的设计确保了操作人员在搬送晶圆时(包括薄晶圆和变形晶圆)的效率和安全。AL120晶圆搬送机可对应200mm以下晶圆尺寸的硅、化合物晶圆,可以安全高效搬送薄片晶圆,非常适合于前道到后道工程的晶圆检查。 ?体视显微镜SZX16通用显微镜是根据检测应用的需求设计的,0.7x - 11.5x,变倍比可达16.4倍,分辨率可达900 LP/mm。能够满足广泛的研究需求。SZX10是可再现样品自然颜色和形貌的应用领域较为广泛的高级系统体视显微镜。宽范围的变倍比(10倍),工作距离81mm,开口数0.1(采用1倍物镜时)。可提供高光学性能和舒适的操作环境。SZX7体视显微镜,价格适中、操作简便、观察舒适,并配有7:1变焦率功能和内置防静电保护装置,采用了先进的伽利略光学系统,可生成优异的高画质图像。SZ51和SZ61显微镜配有内置防静电保护装置,可生成具有优异景深、清晰、细致、颜色逼真的图像。其可靠、高性能的光学部件是保证精确观测结果的核心。 测量显微镜STM6-LM显微镜拥有亚微米级的精度,实现了优异的通用性,可对各种零部件和电子元件进行高性能的三轴测量。低倍率选项使之成为精密工具制造者的理想选择。STM6显微镜拥有亚微米级的精度,实现了优异的通用性,可对各种零部件和电子元件进行高性能的二轴或三轴测量。低倍率选项使之成为精密工具制造者的理想选择。

对比栏隐藏对比栏已满,您可以删除不需要的栏内商品再继续添加!
您还可以继续添加
您还可以继续添加
您还可以继续添加
您还可以继续添加
您还可以继续添加