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SunScan 冠层分析系统简介

上传人: 北京哈维斯廷科技韦德国际1946手机版 |大小:1.17MB|浏览:997次|下载:24次|上传:2017-09-20

文档简介

SunScan 冠层分析系统
一 用途:
通过测量作物冠层PAR值提供了关 于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI)。SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。

二 原理:
根据冠层吸收的Beer法则、Wood的SunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations),使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。
标签:冠层分析仪 sunsca 冠层分析仪

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